манбаларига турли хил қиздириш лампаларини мисол қилиб келтириш
мумкин, бундан ташқари, маиший турмуш ва саноат ѐритиш воситалари,
кўча ѐритгичлар,
электр фоточаноклар, электр ѐритгичлар ва галоген
лампаларидан ҳам фойдаланилади.
1.
Лупа ва микроскоплар ѐрдамида бажариладиган тадқиқотлар
Криминалистик мақсадларда турли дактилоскопик, дон-дун, биноклли
ва бошқа, 2 каррадан то 10-15 каррагача катталаштирувчи луналар
ишлатилади.
Дон-дун луналари тубида гардишли штативга ўрнатилган луна бўлиб,
унинг гардишига дон солиниб текширилади.
Микроскоп
- объектив, оқўляр ва ѐритиш асбоблари (ойна ва
конденсор)дан иборат оптик тизимдир. У объектив ва оқўляр катталаштириш
кучларининг кўпайтмасига тенг катталаштириш қобилиятига эга.
Криминалистикада турли микроскоплардан фойдаланилади. Биологик
микроскоплар («МБИ-1», «МБИ-3», «МБР-1» ва бошқалар) рангсиз ва
нимранг (қон, сўлак ва бошқалар) объектларни текширишда қўлланади.
Уларнинг катталаштириш қобилияти 56х дан 1350хгача. «МБИ-4» дурбинли
мосламага эга. Дурбинли стереоскопик («МБС-1»,«МБС-2») микроскоплар
бир вақтнинг ўзида акслантирувчи ва тик нурлар билан хажмли кўринишда
ўрганишга ѐрдам беради. Улар бузиш қуроллари, ўқ ва гильзалардаги
изларни, ҳужжатларни техник тадқиқ қилишда қўлланади.
Катталаштириш
қобилияти 35хдан 119хгача. Солиштириб кўрувчи («МИС-10», «МС-51»,
«МСК-1») микроскоп (компоратор)лар икки микроскопнинг бирлашмасидан
ташкил топган.
Уларнинг ҳар бири ўз объектининг тасвирини кўзатиш оқўлярига
узатадилар. Натижада, бир вақтнинг ўзида икки объектни бир-бири билан
солиштириш имконини беради (масалан, текширилаѐтган ўқдаги кесилган из
билан экспериментал ўқнинг тасвирини солиштириш). Бу микроскопларда
олиб борилаѐтган ишларни расмга олиш учун махсус ускуна ҳам ўрнатилган.
Унинг катталаштириш қобилияти 7х дан 1350 гача.
Махсус солиштирма криминалистик («МСК-1»)
микроскоп трасо-
логик, баллистик ва бошқа объектларни текширишга мўлжалланган. «МСК-
1» катта предмет столи, махсус жилосиз проекцион экран ва
солиштирилаѐтган объектларни расмга олиш мосламаларига эгадир.
Объектлар тасвирини оқўляр орқали ҳам экранда кўзатиш мумкин.
Микроскоп текширилаѐтган объектларни ўрнатувчи, алмаштирувчи предмет
столчалари, ўтаѐтган ва тушаѐтган нурларни ѐритувчи мосламаларга эга.
Инструментал микроскоплар микрообъектларнинг катта-кичикларини,
излар
трассаларининг кенглигини, изда акси қолган деталлар орасидаги
масофаларни аниқ ўлчаш учун қўлланади. Бу микроскопларда кўпроқ
трасологик, баллистик ва техник тадқиқотларда фойдаланилади.
Металлографик («МИМ-6», «МИМ-7») микроскоплар металл буюмлар
тўзилишини ўрганишда қўлланади (Масалан, сохта тангалар, қисмларга кўра,
бутун нарсани аниқлаш).
Поляризацион ва люминецент микроскоплар турли ашѐларнинг толаси,
ранги, ноляризацион ва ультрабинафша нурларида дифференциялаш
мақсадида текшириш учун қўлланади.
Электрон микроскоплар турли моддаларнинг жабрланувчи ѐки
жиноятчи тана ва уст-бошида қолган кичик заррачаларни текширишда
қўлланади. Бу микроскопларнинг катталаштириш қобилияти
оптик
асбобларга қараганда бир неча баробар юқорироқдир.
2.
Спектрал тахлил. Спектроскопик тадқиқотлар
Тушаѐтган нур турли моддаларнинг молеқўляр тузилиши турлича
бўлгани сабабли уларга турлича сингади ва акс этади. Спектрал таҳлил
моддаларнинг шу хусусиятига асосланган. Спектрал таҳлилнинг икки -
эмиссион ва абсорбцион турлари мавжуд.
Эмиссион спектрал таҳлил спектрографлар ѐрдамида бажарилади.
Модданинг 03 (бир неча миллиграмм) микдори спектрографга
боғланади. Модда атом заррачаларига бўлинади. Бу заррачалар муайян
тўлқинлар доирасида ўз энергиясини тарқатади.
Эталон спектрлар билан
солиштириб, модданинг миқдори ва сифати таркибини аниқлаш мумкин,
(спектрдаги чизиқларнинг оптик зичлиги - миқдор белгиси, спектрал
чизиқларнинг мавжудлиги - сифат белгисидир).
Абсорбцион спектрал таҳлилни ўтувчи ва акслантирувчи ѐругликда
бажариш мумкин. Бу усул бўялган объектлар рангини таҳлил қилиш учун
хизмат қилади. Ҳар бир объект ранги бу объект томонидан спектрнинг кўзга
кўринган турли ерларда синган ѐки акс этган ѐруғлик энергияси миқдори
билан сифатланади. Бу таҳлилни бажаришда спектрограф, спектрофотометр
ва фотометрлар қўлланади.
Сохталаштирилган ҳужжатларни тадқиқ қилишда светофильтр
ѐрдамида ўтказиладиган спектрал таҳлиллар катта аҳамиятга эга. Рангларнинг
бўлиниши каби фотографик метод светофильтрни қўллашга асосланган.
3.
Do'stlaringiz bilan baham: 
