S sh. Xabibullayev, S. A. Djumayev defektoskopiya va diagnostika

8.2. Ultratovushli nazorat qilishda qo‘llaniladigan apparaturalar, 
usullar va texnologiyalar
Konstruksiyada mavjud bo‘lgan nuqsonlarni aniqlash va o‘lchashni 
maxsus yoki umumiy xususiyatli ultratovushli defektoskoplar yor-
damida amalga oshiriladi. 8.2.1-rasmda umumiy xususiyatli impulsli 
ultratovushli exo-defektoskopning sxemasi keltirilgan.
Nazorat qilinayotgan buyumga yuborilayotgan ultratovushli 
mexanik tebranishar impulsi pezoqayta hosil qilgichda qotuvchan 
pezoeffekt tufayli hosil qilinadi. Buning uchun pezo hosil qilgich-
ning pezoelementiga qisqa elektr impulsi beriladi, bu impulsni esa 
zondlanuvchan impulslarni ishlab chiqaruvchi generator orqali 
beriladi. Tublik sirtidan qaytarilgan yoki nuqsondan qaytarilgan 
UZK mexanik impulsi o‘sha yoki qabul qilish rejimida ishlovchi 
boshqa pezohosil qilgich bilan qilinadi va u to‘g‘ridan to‘g‘ri 
o‘zgartiradigan pezoeffekt bilan elektrik signalga o‘tkaziladi.
Keyin esa kuchaytirgichda kuchaytirilgan signal defektoskop-
ning ekranida balandligi bo‘yicha nurning holatini aniqlovchi 
ekranning elementlariga uzatiladi.
Bir vaqtning o‘zida zondlovchi impulslar generatori bilan bir-
ga aniqlovchi generator ishga tushadi, bu generator bilan chiziqli 
kuchayadigan arrasimon impulslar ishlab chiqiladi va ularni gori-
zontal tekislikda nurni tekislash uchun ekranning gorizontal 
og‘ishadigan elementlariga uzatiladi. Nuqsondan (D) keluvchi 
signallar yoki buyumning qarama-qarshi tomonidan keluvchi sig-
nallar (tublik signali) zondlovchi impulslar bilan birga defektoskop-
ning ekranida mos keluvchi amplitudali cho‘qqilar sifatida hosil 
bo‘ladi, ushbu cho‘qqilarning gorizontal o‘qida ularning kelishi 
vaqti aniqlanadi va u tekshirilayogan buyumning UZ tebranish-

---

52
ning tezligiga hamda nuqsonning topilgan chuqurligiga va buyum 
qalinligiga bog‘liq bo‘ladi. Impulsning kelishiga asoslangan 
chuqurlikni o‘lchovchi asbob yordamida va tebranishning ma’lum 
bo‘lgan tarqalish tezligi yordamida mos ravishda nuqsonning tur-
gan chuqurligi va buyumning qalinligi aniqlanadi. 
Berilgan impuls
D
Nuqsondan kelayotgan impuls
Zondlovchi impuls
8.2.1-rasm.
Ultratovushli defektoskop sxemasi: 1 – bosimni qayta 
shakillantirgich; 2 – zondlovchi impulslar generatori; 3 – sinxronizator; 
4 – gorizontal yoyish generatori; 5 – chuquirlik o‘lchagich; 6 – sezuv-
chanlikni vaqtinchalik roslash bloki; 7 – kuchaytirgich; 8 – nuqsonlar 
to‘g‘risida avtomatik signal berish qurilmasi; 9 – defektoskop ekrani.
Oxirgi vaqtlarda ishlab chiqilgan ultratovushli defektoskoplar 
mikroprotsessor bazasida yaratilgan bo‘lib, katta funksional im-
koniyatlarga ega. Ularning elektron va defektoskopik parametrlari 
yaqin, chunki bu turdagi barcha asboblarda bir xildagi elektron 
komponentlardan foydalaniladi. Ularning eng asosiy tomoni bu 
gabariti va massasidir.