Atom-emission va atom-absorbsion spektrometriya Atom spektroskopik analiz usullari

Fonning nurlanishi va yutilishi. Atomizatorda erkin atomlar bilan birga ko’p atomli zarrachalar – molekulalar, erkin radikallar ham bo’ladi. Yuqori temperaturalarda ular xuddi atomlar kabi qo’zg’alishi va optik sohada nur chiqarishi mumkin. Bu nurlanish (shuningdek atomizatorda bo’lishi mumkin bo’lgan qizdirilgan makroskopik zarrachalarning nurlari) fon deyiladi. Xususan, ko’mir elektrodli yoy yoki uchqun atomizatorlari ishlatilganda, spektrning 360 – 460 nm sohasida CN molekulaning intensiv fon nurlanishi paydo bo’ladi. Xalaqit beruvchi intensiv fon nurlanishi paydo bo’lganda, analitik maqsadlar uchun spektrning tegishli sohasini ishlatish mumkin emas. Agar fonning nurlanishi uncha katta bo’lmasa, uning ta’sirini bartaraf etish mumkin. Buning uchun fon nurlanishining intensivligini, o’rganilayotgan spektr chiziqqa yaqin bo’lgan to’lqin uzunligida o’lchab uning qiymatini spektr chiziq intensivligidan ayirish kerak.

Qo’zg’atilgan atomlar chiqarayotgan nurlanishning bir qismini fon tomonidan yutilishi ham, xalaqit beruvchi ta’sir ko’rsatadi (chiqarilgan

nurlarning xuddi shunday qo’zg’almagan atomlar tomonidan yutish hodisasi bilan taqqoslang).


Atom spektr chiziqlarining ustma-ust tushishi (bir-birini qoplashi). Har bir elementning chiqarish spektri, qo’zg’algan holatlardan energiyasi kam bo’lgan holatlarga o’tishlar natijasida hosil bo’lgan ko’p sonli chiziqlardan iborat bo’ladi. Bunday chiziqlarning soni bir necha ming bo’lishi mumkin (masalan, temir va uran uchun). Shuning uchun, AES da turli elementlar spektr chiziqlarining bir-birining ustiga tushish, ya’ni o’zaro qoplash ehtimoli yetarli darajada katta. Bunday hollarda analiz uchun bir-birini qoplamaydigan chiziqlarni ishlatish zarur.

Temperaturani ko’targanda atom emission spektrlar murakkablashadi, chunki ularda yuqori qo’zg’algan holatlardan o’tishlar bilan bog’liq bo’lgan yangi chiziqlar, shuningdek qo’zg’algan ionlarning chiziqlari paydo bo’ladi. Yuqori temperaturalarda (uchqun, IBP) olingan spektrlarni talqin qilishni ko’pincha kompyuter usullari bilan o’tkazish zarur.

Metrologik nuqtai nazardan ko’pchilik spektral xalaqitlar, masalan spektr chiziqlarining ustma-ust tushishi additiv xarakterga ega, ya’ni umumiy analitik signal aniqlanuvchi va begona komponentlarning signallari qo’shgan ulushlarning yig’indisidan iborat bo’ladi. Miqdoriy analizda darajalash usulini tanlashda bunday holni hisobga olish zarur.