Navoiy davlat konchilik instituti nukus filiali materialshunoslik

Yuklanish ta’sir ettirilgan holatda stoldan namunani almashtish taqiqlanadi.
Namunani o‘lchash maxsus tayyorlangan shliflarda olib boriladi.
1. Sinaladigan namuna mikroqattiqlikdagi mikroskop stoliga o‘rnatiladi.
2. Tavsiya etilgan yuklanishga yuk tanlanib qo‘yiladi.
3. Namunadagi iz uchun joyi olinadi. Namunani iz markazidan namuna burchagicha bo‘lgan oraliq masofa namunaning o‘lchamidan 2 marta katta bo‘lishi tavsiya etilmaydi. Namuna markazidagi izning qo‘shi iz orasidagi oraliq masofa 3 martadan katta bo‘lishi kerak.
4. Mikroskopning harakat stoli ohista, ravon soat strelkasiga qarama-qarshi holatda burilishi va tayanch nuqtasiga borganda har xil kuchlar, tebrinishlar ta’sirisiz olib borilishi kerak.
5. Sekin va ravon holatda olmos uchli piramidani tanlangan yuklanishga olib boorish kerak. Buning uchun dastakni 180° burchak ostida tayanch nuqtasiga olib boorish 10-15 sekund oraliqda yuklanish namunaga ta’sir etishi kerak.
6. Dastakni oldingi holatga burab qo‘yish talab qilinadi.
7. Namuna izining ya’ni piramida dioganallarini МОV-1-16 okulyar vintli mikrometr bilan o‘lchash tadbiq etiladi. Dioganallarini bir necha bor o‘lchash tavsiya etiladi chunki o‘lchov xatoligini kamaytirish maqsadida.
8. Mikroqattiqlikdagi materialni o‘lchashda 10 tadan kam bo‘lmagan izning shakllari tavsiya etiladi.

O‘rtato‘rtburchakni xatoligini o‘lchashning quyidagi formuladan aniqlanadi

- o‘rta o‘lchov birligi; x_i – natija i-ning o‘lchovi; n – o‘lchov soni.
O‘lchov natijalari quyidagi jadvalga kiritiladi; 3 jadval.

Namuna raqami

Material

Strukturani tashkil etuvchilari