Микроскопларнинг катталаштириш даражасини таъминловчи мосламалар. Улар қаторига объектив (объектни катталаштирувчи линза, ёки бир нечта линзалардан ташкил топган муракаб оптик система) ва окуляр (кўриш учун катталаштириб берувчи система, у цилиндр шаклидаги металл трубага ўрнатилган иккита линзадан ташкил топган) ларнинг тўплами киради. Объектнинг катталаштириш даражаси қуйидаги 1-жадвалда келтирилади.
1-жадвал
Объектнинг катталаштириш даражаси
Объектив
|
Окуляр ва катталаштириш
|
|
5х
|
6х
|
8х
|
12х
|
15х
|
17х
|
20х
|
3х
|
15
|
18
|
24
|
37.5
|
45
|
51
|
60
|
8х
|
40
|
48
|
64
|
100
|
120
|
136
|
160
|
20х
|
100
|
120
|
160
|
240
|
300
|
340
|
400
|
40х
|
200
|
240
|
320
|
480
|
600
|
680
|
800
|
60х
|
300
|
360
|
480
|
720
|
900
|
1020
|
1200
|
90х
|
450
|
540
|
720
|
1080
|
1350
|
1530
|
1800
|
МИМ-5, МИМ-6, МИМ-7, МИМ-ВМ микроскоплари. Кимё махсулотларини текшириш лабораторияларида МИМ-5, МИМ-6, МИМ-7 турдаги (60Х дан 660Х гача катталаштиради) ва МИМ-ВМ (оддий кўришда 100Х дан 1350Х гача; фотографияда 45Х дан 2000Х гача катталаштиришга эришилади) металлографик микроскоплар хам кенг ишлатилади. Бу турдаги микроскоплар шаффоф бўлмаган микропрепаратларни оддий ва поляризацион ёруғликда, ёруғлик майдонининг тўғри ва ёнлама ёритиш шароитида текшириш ва расмлар олиш учун мўлжалланган. Бунинг учун кристалл ёки аморф моддалардан шлиф ва аншлифлар тайёрланади ва улар қайтган нурлар ёрдамида текширилади. Кузатилган манзара фотопластинка ёки фотоплёнкага махсус фотоаппаратлар ёрдамида туширилади.
Препаратларни тайёрлаш усуллари.
Материал, буюм ва тажриба намунасини микроскопик текширишга қуруқ ёки хўл усулларда тайёрлаш ва тадқиқотлар ўтказиш учун асосан қуйида батафсил баён қилинган уч усулдан фойдаланилади.
Иммерсион препаратларни тайёрлаш. Бу усул энг қадимий ва энг осон усуллардан бири бўлиб, унда иммерсион препаратларни тайёрлаш қуйидаги соддалаштирилган схема бўйича тайёрланади:
7-Расм. Иммерсион усулда модданинг нур синдириш кўрсаткичини аниқлаш.
Шаффоф шлифлар тайёрлаш. Шаффоф шлиф тайёрлаш иммерсия усули шлифини тайёрлашдан тубдан фарқ қилади. Иммерсия усулида суюқликни тез-тез алмаштириб туриш мумкин. Бу ерда эса шаффоф шлиф тайёрлаш анчагина мураккаб жараёндир. Уни қуйидаги тизим бўйича амалга оширилади:
8 расм. Шаффоф шлифлар тайёрлаш тизими.
3. Силлиқланган (полировка қилинган) шлифларни тайёрлаш. Бундай шлифлар металлографик микроскоплари учун қуйидаги тартибда амалга оширилади:
9-расм. Силлиқланган (полировка қилинган) шлифларни тайёрлаш тизими.
Усулнинг афзаллиги ва камчиликлари.
Микроскопик тахлил усулининг афзалликларига қуйидагиларни кўрсатиш мумкин:
1) талқин этишнинг соддалиги;
2) олинган натижанинг тўлалиги;
3) олинган натижанинг ишончлилиги;
4) олинган натижанинг тезкорлиги (1-10 минут);
5) 0,3 мкм гача (ёруғлик микроскопларида) бўлган майда заррачаларни
фарқлаш имкони (ультрабинафша микроскопларида 0,2 мкм гача);
6) микроскоп тузилишининг оддийлиги (соддалиги);
7) фотоматериал, пластинка ва пленкалар ёрдамида визуаль кузатилаётган микротузилиш ҳолатининг документаллаштириш,яъни фотографиясини олиш мумкинлиги;
8) такомиллаштирилган ион проекторли микроскопларда ўлчами 0,1 мм дан то 10-10 м (1 Å) гача бўлган дефектларни аниқлай олиши;
9) текширишни паст ва юқори ҳароратда, ультрабинафша ва инфрақизил нурлар иштирокида, ультра товуш таъсирида олиб бориш мумкинлиги.
Микроскопик тахлил усулининг камчиликлари сифатида қуйидагиларни кўрсатиб ўтишимиз мумкин бўлади:
1) расшифровка қилишнинг соддалиги;
2) кўпгина микроскопларнинг етарли даражада моддаларни катталаш-тира олмаслиги;
3) микроскопда ишловчининг толиқиш ва чарчаш туфайли хоссаларни тўғри қабул қила олмаслиги.
4) иммерсион суюқликларни учиши ва хар куни уларнинг таъсирини назорат қилишни муҳимлиги;
5) ўлчаш ноаниқлигининг катталиги, + 0,03;
6) юқори даражали катталаштиришда юстировка операциясининг мурак-каблиги;
7) нур синдириш кўрсатгичи яқин бўлган моддалар кимёвий таркибини аниқлаш қийинлиги.
Do'stlaringiz bilan baham: |