Ўзбекистон республикаси олий ва ўрта махсус таълим вазирлиги ҳузуридаги олий таълим тизими педагог ва раҳбар кадрларини қайта тайёрлаш ва уларнинг малакасини оширишни ташкил этиш

1 . Электрон микроскоплар. Уларда катод нурларидан фойдаланиш орқали катта ютуқларга эришилди. Улар қаторига 1931 йили немис олимлари М.Кноллем ва Э.Руск томонидан яратилган электрон микроскопларида тортиб то ҳозирги замонавий интерференцион электрон микроскопларгача киради. Назарий жиҳатдан бундай микроскопларда 100 А^о гача, амалий жиҳатдан эса 500-1000 А^о бўлакча арни кўриш мумкин (20-22 расм).
20- расм . Электрон микроскопда олинган тасвир (Микроструктура материалов дольменов, электронный микроскоп: (photo 1017) - дольмен долины реки Пшада; (photo 979) - дольмен горы Нексис).



21- расм. Замонавий электрон микроскопнинг кўриниши.

22- расм. Ип толаси ва гитаранинг ипи электрон микроскопда кўриниши.
2. Растро нурли электрон микроскоплар. Улар қаторига растро нурли микроскоп, массив объектларни тадқиқот қилишга мўлжалланган растро электрон микроскопи, кучланиши 150 кВ бўлган растро электрон микроскопи, катод-люминесцент объектларни текширувчи растро электрон микроскопи, телевизион тасвирли ультра товушли микроскоп ва бошқалар киради.
3. Рентген микроскопияси ва микрозонд тахлили. Рентген проекцияли микроскоп, рентгенли топография, электрон-зондли рентген микроанализатори (23-24 расмлар), ион-зондли масс-спектрал микроанализатор ва бошқалар бу гуруҳга киради.
Современные методы и аппараты рентгенографического анализа. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ).







23- расм. Лазерли рентген микроскопи.

24- расм. Jeol Электрон-зонд микроскопи.

25 расм. Сканерли зонд микроскопида олинган тасвир ( Бактерия кишечной палочки (Escherichia coli). Изображение получено с помощью сканирующего зондового микроскопа. Длина бактерии – 1,9 мкм, ширина – 1 мкм. Толщина жгутиков и ресничек – 30 нм и 20 нм, соответственно. Автор: Ang Li, National University of Singapore.)






26 расм. Замонавий СОЛВЕР НЕКСТ фирмаси сканерли зонд микроскопи ва унда олинган тасвир.

А Б
27 расм. Микро -зонднинг кўриниши (А) ва ишлаш принципи (Б).
Микрозонд тахлили материал юзасини ва уни ташкил этувчи элементларни, кимёвий бирикмаларни аниқлашга имконият беради. Мисол тариқасида 28расмда келтирилган кварц қумидан олинган техник SiO₂ ни микрозонд билан текшириш натижалари келтирилган.

28-расм. Аморф SiO_{2 (}кварц қумсидан олинган) юзаси: a) нанозаррачаларнинг гурухларини 2D текисликда кўриниши; b) нанозаррачаларнинг гурухларини 3D текисликда кўриниши; c), d) 1 ва 2-нанозаррачаларнинг 3D текисликда кўриниши. (Атом-кучланишли электрон микрозонди SOLVER P47).