Oliy va o‘rta

Teodolit T1 OT­02 va OT­02M teodolitlariga ko‘ra qo‘shimcha quyidagilarga ega: mo‘ljalga aniq qaratish uchun okulyar mikro­ metriga; trubaning gorizontal aylanish o‘qiga o‘rnatiladigan adi­ lakka; asbobni nuqta ustiga markazlash uchun optik markazga.

Vertikal o‘qi silindrik, yarim kinematik, o‘z­o‘zidan moslana­ di. qarash trubasi to‘g‘ri markaziy astronomik, okular qismi bi­ lan zenit orqali o‘tkaziladi. Okular mikrometri kichik bo‘lagining qiymati 1'' ga teng, u teleskopik linza rasmida tayyorlangan. Go­ rizontal va vertikal doiralar bo‘yicha sanoqlar T05 teodolitiga o‘xshash optik ponali mikrometr yordamida amalga oshiriladi. Masalan, T1 teodoliti gorizontal doirasi bo‘yicha sanoq quyida­ gi tartibda olinadi:

146°20'

3' 07,7'' (1­birlashtirish)

08,1'' (2­birlashtirish)



146° 23' 07,9''

qiyoslab aytish mumkinki, OT­02 va OT­02M teodolitlari­ da yanada murakkabroq yassi parallel plastinkali mikrometr qo‘llanilgan. T05 teodolitidagidek T1 teodoliti ham uchta silin­ drik adilaklarga ega.

quyida 4.1­jadvalda yuqori aniqlikdagi optik va elektron teo­ dolitlarni texnik tavsiflari beriladi.

Elektronika, mikroprotsessorli texnika va optik asbobsoz­ lik sohasidagi keyingi yillarda erishilgan yutuqlar geodeziyada qo‘llanadigan yuqori aniqlikdagi o‘lchash texnikasini avtomat­ lashtirish imkonini berdi. Keyingi yillarda ishlab chiqarilayotgan yuqori aniqlikdagi teodolitlarda, an’anaviy optik teodolitlardagi limtdan sanoq olish optik mikrometr qurilmasi o‘rniga, sanoq olishning dinamik tizimi optik­elektron skanerlash qo‘llanilganki, u burchak o‘lchash jarayonini avtomatlashtirish hamda asbob o‘lchash aniqligini oshirish imkonini beradi.

Bunday elektron teodolitlarga misol qilib ET­02, T2000S, Trimble 3600DR va boshqalarni ko‘rsatish mumkin.

quyidagi 4.1­jadvalda yuqori aniqlikdagi optikaviy va elektron teodolitlarning texnik tavsifi berilgan.