Fizikaning hozirgi zamon ta’limidagi o’rni

 
 
РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ЭЛЕМЕНТОВ ПО ТОЛЩИНЕ КОНДЕНСИРОВАННЫХ ПЛЕНОК 
НА ОСНОВЕ СИСТЕМЫ Bi-Sb-Te  
К.Онаркулов ФерГУ профессор, К.Гайназарова ФерГУ преподаватель
В работе исследовано распределение химического состава по толщине конденсированных 
в вакууме тензочувствительных пленок системы Bi-Sb-Te. Известно, что рентгеноспектральный 
микроанализ заключается в измерении спектра характеристического рентгеновского излучения 
атомов исследуемого вещества при их возбуждении монохроматическим электронным пучком. 
Каждый элемент характеризуется вполне определённым набором (спектром) длин волн 
характеристического излучения. За счет потерь энергии электронов в образце, также возникает 
тормозное рентгеновское излучение. Оно имеет непрерывное распределение рентгеновских 
квантов по энергии и зависит от среднего атомного номера исследуемого материала. 
Интенсивность рентгеноспектральной линии зависит от концентрации данного элемента в 
образце. 
Измерение проводилось при постоянном токе электронного зонда и ускоряющем 
напряжении 30 кВ на сериях L
α1
, излучений висмута, сурьмы и теллура. Интенсивность 
характеристического излучения каждого химического элемента измерялось в нескольких 
точках исследуемого образца и эталона в идентичных аппаратурных условиях. В качестве 
эталонов использовались зеркально гладкие сколы монокристаллов висмута, сурьмы и теллура. 
В таблицах 1 и 2 приведены известные параметры химических элементов, а также 
рассчитанные нами коэффициенты по вышеприведенным уравнениям. Для ускоряющего 
напряжения 30 кВ, величины σ составляют 1820 [1]. Массовые коэффициенты поглощения 
взяты из работы [2]. 
Таблица 1. 
Элемент Z 
A 
C 
Z
эф 
α 
h 
P 
P+
𝜇
𝑨
А
 
Sb 
51 
121,8 
1,0 
43,4 
65
° 
5,62·10
-2 
1566 
2034 
Te 
52 
127,6 
1,0 
43,6 
65
°
5,66·10
-2
1566 
2006 
Bi 
83 
209 
1,0 
52,9 
65
°
3,64·10
-2
1594 
1707 

---