|
Bir necha o’lchash va hisoblash qurilmalarini umumiy magistralga ulash sxemasi.
shinasi, boshqaruv shinasi (9.3-rasm). Ma’lumotlar shinasi axborotli m a’lumotlarni uzatishda foydalaniladi, ularga o‘lchash natijalari va birliklari, oichash ketma-ketligi (dasturi) va hokazolar kiradi.
Sinxronlashtirish va boshqarish shinalari bo‘yicha magistralga ulangan qurilmalarning o‘zaro ta’sirlashuvini ta’minlovchi interfeysli m aium otlar uzatiladi. Interfeys (li) m aium otlarga bu qurilmalarga quyidagi kabi biror xizmat vazifalarini amalga oshiruvchi m aium otlar kiradi: axborot manbai, axborotni qabul qilgich, kontroller, uzatishni, qabul qilishni sinxronlashtirish, xizmat ko‘rsatishga so‘rov, parallel so‘rov, qurilmani tozalash, asbobni ishga tushirish, masofadan turib va mahalliy boshqaruv.
TEXNOLOGIK O‘LCHASH VOSITALARIDA MIKROPROTSESSORLARNING QO‘LLANILISHI
Asbobsozlik rivojining hozirgi bosqichi o’lchov vositalari tarkibida mikroprotsessorlar — mikroprotsessor tizimlari asosiga qurilgan hisoblash qurilmalaridan keng foydalanish bilan ifodalanadi. O ichov qurilmalarida bunday tizimlarining qoilanilishi natijasida ikki maqsadga erishiladi: o’lchov qurilmalarining vazifalari kengaytiriladi va ularning tavsiflari yaxshilanadi.
Mikroprotsessor tizimlarning (MPT) elektr o’lchov vositalarida foydalanilishi ularni joylashtirishga va ishlatish algoritmlariga yangicha yondashishga, axborot berish imkoniyatlarini oshirishga, aniqligini, ishonchliligini va tez ishlashini yanada oshirishga imkon beradi.
Texnologik oichashlar sohasida samarali yechimlarni izlash va MPT ichiga qurilgan o’lchov asboblarini ishlab chiqish davom ettirilmoqda.
Umumiy holda o’lchov qurilmalari tarkibiga M PT ning kiritilishi quyidagi kabi asosiy vazifalarni hal qilishga imkon beradi:
• ifodalar bo‘yicha hisoblash (shu jum ladan linearizatsiya, masshtablash, oicham lar natijalariga ishlov berish va hokazolar);
• berilgan algoritm bo‘yicha hisoblash;
• statistik ishlov berish;
• parametrni tahlil qilish (maksimumga, minimumga va hokazo);
• statistik tavsifni tuzatish (jumladan, almashtirish koeffitsiyentini tiklash va signalning nol darajasini tuzatish);
• o’lchov qurilmasi ulangan tizimi bilan bogianish;
• o‘z-o‘zini diagnostika qilish;
• oichashlam i boshqaruv;
• o’lchov qurilmasining rejim (sharoit) parametrlarini stabillash yoki dasturiy sozlash.
Biroq MPTni o’lchov qurilmalari tarkibiga ularga bevosita yangi ijobiy sifatlarni berish bilan bir qatorda, kiritish bu qurilmalarning ancha murakkablashuviga olib keladi. Murakkabligi bo‘yicha MPT kiritilgan o’lchov qurilmalari mikro EHM qatnashgan o’lchov tizimlariga yaqindir. Misol tariqasida hozirgi vaqtda texnologik parametrlar o’lchov qurilmalarini yaratish uchun foydalaniladigan struktura sxemalarini qarab chiqamiz (9.4- rasm).
Yordamchi oichashlar uslubini amalga oshiruvchi sxema (9.4 rasm, a) eng ko‘p qo’llaniladi. Bunday sxema bo‘yicha yasalgan o’lchov qurilmasi ishida asosiy parametr va yordamchi parametrlar PI, P2 — ta’sir ko‘rsatuvchi kattaliklar (atrof harorati, atmosfera bosimi va boshqalar) haqidagi axborotdan foydalaniladi. MPT yordamida ta’sir funksiyalari orqali ta’sir ko‘rsatuvchi kattaliklaming ta’sirlarini hisobga olish, oichash qurilmasining xatosini kamaytiradi. Bunday sxemaga ko‘ra bosimni, haroratni, sathni, sarfni, hajmni va boshqalarni oichash qurilmalari quriladi. Bunda asosiy va yordamchi parametrlar to‘g‘ri va muvozanatlovchi uslub bilan oichanishi mumkin.
9.4-rasm, b da MPT kiritilgan o’lchov qurilmasining struktura sxemasi ko‘rsatilgan boiib, u oichashlarni namunali signallar va birgalikdagi oichashlar uslubi bilan amalga oshirishni ta’minlaydi. Mazkur qurilmaning o ic h o v qismi P param etrni, M o ich o v n i (o ich o v lar to ‘plam ini), shuningdek, P parametr va o’lchov lar to‘plamini birgalikda oichaydi. MPT axborotga ishlov beradi va oichash jarayonini boshqaradi.
Sxema (9.4-rasm, с) bo‘yicha qurilgan o’lchov qurilmasi tarkibiga operatsion bo‘g‘in OB kiradi, unda MPT buyruqlariga ko‘ra boshqaruvchi ta ’sirlarni shakllantirish qurilmasi (BTSHQ) yordam ida elem entlarni almashtirish uchun zarur oichashlar amalga oshiriladi, bularning natijasida oichanayotgan parametr P ning sezgir element SE ga ta’siri (ta’sirlari) shakllanadi.
Sxemalar (9.4-rasm, b, с) massa, hajm, suyuq muhitlarning zichligi va boshqalarni yaratishda qo’llaniladi.
MPT dan foydalanishning eng samarali usuli ulardan analitik texnika vositalarida foydalanish hisoblanadi, bunda asosiy va bir qator yordamchi parametrlami oichash bilan bir qatorda, analitik qurilma bo‘g‘inlarini (mantiqiy va o‘xshash) boshqarish va axborotga ishlov berish bilan bogiiq katta hajmdagi hisoblashlarni bajarish talab qilinadi.
9.5-rasm, a da avtomatik sifat analizatorining umumlashtirilgan struktura (tuzilma) sxemasi ko‘rsatilgan. Bitta parametrni oichashni amalga oshiruvchi analizatorlarda o’lchov axborotining asosiy signali u yoki bu detektor D yordamda analitik qurilma AQ da shakllanadi. Analizatoming xatosini kamaytirish uchun va uning bir qator sezgir element yordamida m e’yorida ishlashini ta’minlash uchun bir qator parametrlarning qiymatlari bo‘yicha statik tavsif tuziladi, analitik qurilmaning rejimli parametrlari stabillashadi va tahlil o‘tkazish uchun zarur ulashlar amalga oshiriladi.
Do'stlaringiz bilan baham: |
