Yarim o’tkazgichli Si(P) – kristallarni tezlashtirilgan protonlar bilan nurlantirish natijasida ularning elektrofizikaviy xossalarini o’rganish”

O‘ZBEKISTON RESPUBLIKASI
OLIY VA O‘RTA MAXSUS TA’LIM VAZIRLIGI
Mirzo Ulug`bek nomidаgi O`zbekiston Milliy universiteti
FIZIKА FАKULTETI
yadro fizikasi kafedrasi
ABDURASULOV AKMAL ZAYNIDDIN O’G’LINING

“Yarim o’tkazgichli Si(P) – kristallarni tezlashtirilgan protonlar bilan nurlantirish natijasida ularning elektrofizikaviy xossalarini o’rganish”.

5А140202-Yadro fizikasi va yadro texnologiyalari
(qo’llash sohalari bo’yicha)
Magistr
akademik darajasini olish uchun yozilgan


dissertatsiyasi
Ilmiy rahbar
f.-m.f.n., dots. A.Y. Saydimov
Toshkent -2022 y.


DESSERTATSIYA ISHI HIMOYAGA TAVSIYA ETILADI

O’zMU Fizika fakulteti dekani _________________________ ________________________ “____” ________ 2022 y

Yadro fizikasi kafedrasi mudiri _________________________ _______________________ “____” __________2022 y

REZYUME
EG - 2 “SOKOL” elektrostatik tezlatgichida KEF-5 namunalarni protonlar bilan nurlantirish yo’li orqali yarimo’tkazgichli materiallarni radiatsiyaga ta’sirini tadqiq qilish mo’jallangan.Namunalarni nurlantirishdan oldingi va keyingi elektrofizikaviy parametrlarni taqqoslash orqali olingan natijalarni tahlil qilish .SEM orqali namunalar yuzasidagi nuqsonlar , nurlantirilgan qismlarning kimyoviy tarkibi namunaning boshqa qismlari bilan solishtirish holatda natijalar olishga asoslangan.

АННОТАТЦИЯ
Электростатический ускоритель ЭГ-2 СОКОЛ предназначен для исследования влияния радиации на полупроводниковые материалы при облучении образцов КЭФ-5 протонами.Анализ полученных результатов путем сравнения электрофизических параметров до и после облучения образцов. облучаемых частей основывается на получении результатов в случае сравнения с другими частями образца.

RESUME
The EG-2 SOKOL electrostatic accelerator is designed to study the effect of radiation on semiconductor materials by irradiating KEF-5 samples with protons. Analysis of the results obtained by comparing the electrophysical parameters before and after irradiation of samples. , the chemical composition of the irradiated parts is based on obtaining results in the case of comparison with other parts of the sample.

­