Учебное пособие для студентов

K_yc = ехр[-(qЕ / k)  (1 / Т₂ – 1 / Т₁)], (6.44)
где Т₁ и Т₂ - температура при форсированном и нормаль­ном режиме соответственно (Т₁ > Т₂). Для более надежных изделий фактор ускорения меньше, чем для менее надежных [20].

6.6.1 Определительные ускоренные испытания на надёжность с использованием прогнозирования

Ускоренные испытания служат для получения в укороченный промежуток времени t_у до появле­ния в РЭС первого отказа необходимой диагностической информа­ции, по которой можно судить о состоянии РЭС при ее дальней­шей технической эксплуатации в течение времени t при t_y << t.
Введение между работоспособным и неработоспособным состояниями промежуточного предотказового состояния характеризует процесс накопления нарушений в контролируемом объекте или, что то же самое, процесс изменения технического состояния, предшествующий возникновению неработоспособного состояния контролируемого объекта. Предотказовым состоянием изделия называется такое его состояние, при котором накапливающиеся в нем нарушения, различимые с помощью заданных средств и мето­дов, не препятствуют в течение некоторого периода времени безотказной работе.
Различают ускоренные испытания в нормальном и форсиро­ванном режимах. Ускорение испытаний в нор­мальных условиях можно достигнуть назначением более жестких допусков Δх_И на изменение диагностируемого параметра х по сравнению с допуском на него Δх, заданного ТУ. Время t_y, в течение которого х не выйдет за границы Δх_И, будет меньше времени t его пребывания в границах допуска Δх. Другим способом ускорения испытаний в нормальных услови­ях является увеличение объема испытуемой партии, так как с увеличением числа проверяемых приборов увеличивается вероят­ность появления отказов [1].
Существует также ряд эмпирически установленных косвенных признаков, по изменению которых можно с определенной досто­верностью судить о предотказовом состоянии объекта и, следовательно, прогнозировать в скором будущем наступление отказа. Определение предотказового состояния по этим признакам осуществляют методами локальной и методами интегральной диагностики. Методы интегральной диагностики позволяют обнаружить потенциально ненадёжные изделия, например, изделия со скрытыми дефектами, нестабильными характеристиками и др. Но они не позволяют установить причину дефекта или локализовать его местоположение в изделии.
К методам локальной диагностики относятся: методы дефектоскопии (рентгеновские, тепловые, ультразвуковые и др.), методы физического эксперимента (растровая электронная микроскопия, радиоспектральные методы и др.) и методы локального измерения специально выбранных характеристик электромагнитных, тепловых и других полей.
При предотказовом состоянии происходит измене­ние спектра электрического шума полупроводниковых приборов и увеличение средней мощности такого шума, увеличение перегрева радиоэлементов, появление характерных для предотказового состояния звуков при работе электродвигателей, вентиляторов подшипников и т.п. При подаче синусоидального напряжения на участок цепи, имеющий строго постоянное (не зависящее от силы тока, протекающему по нему) сопротивление, ток, протекающий через элемент будет тоже строго синусоидальным. Несинусоидальность тока при подаче на участок цепи строго синусоидального напряжения свидетельствует о том, что в цепи имеется переменное, зависящее от тока сопротивление. Если элементы в цепи должны иметь строго постоянное сопротивление, значит, в цепи возник ненадёжный контакт, представляющий собой источник нелинейности. Степень искажения оценивают по доле третьей гармоники в кривой тока. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов производят по отклонению формы вольтамперной характеристики от образцовой. Более подробно вопросы диагностики предотказового состояния при неразрушающем контроле элементов и узлов радиоэлектронной аппаратуры изложены в [29].
Ускоренными испытаниями в форсированных режимах (или просто форсированными испытаниями) называют такие, которые проводят в условиях форсирования процесса возникновения отка­зов. Создать такие условия можно, изменив, например, тем­пературу, влажность и давление среды, в которой осуществляется испытание, или увеличив рабочие нагрузки и диапазон частот, в котором работает прибор. Форсированные режимы ускоряют фи­зико-химические процессы в материалах испытуемых изделий и способствуют более быстрому развитию в них процессов износа и старения.
В качестве примера приведём результаты ускоренных испытаний на срок службы в форсированном циклическом режиме транзисторов типа П210 (рисунок 6.7). Испытания проводились в 50 нагрузочных циклов одинаковой д
лительности и напряжённости.
Транзисторы, имеющие большое тепловое сопротивление переход- корпус и соответственно повышенные температуры кристалла, имеют значительно меньший срок службы, чем остальные транзисторы. Транзисторы, имеющие тепловое сопротивление ниже определённого уровня, имеют срок службы, практически не зависящий от теплового сопротивления. Надёжность этих транзисторов определяется другими факторами, а у транзисторов с большим тепловым сопротивлением, тепловое сопротивление является доминирующим фактором, определяющим их надёжность.
Для обнаружения предотказовых состояний с целью прогнозирования надёжности различных элементов можно использовать переходные тепловые характеристики. Результаты прогнозирования надёжности резисторов по переходным тепловым характеристикам иллюстрируются рисунком 6.8, на котором приведены графики изменения сопротивления резисторов типа МЛТ-0,5 во времени форсированных испытаний при импульсной нагрузке с повышенным тепловыделением. Амплитуда и длительность импульса выбираются такими, чтобы выделяемая в резистивном элементе энергия была немного меньше энергии, приводящей к необратимым изменениям в резисторе. В результате исследований, проводившихся на резисторах типа МЛТ мощностью 0,5 Вт было установлено, что для резисторов, не имеющих дефектов, изменение сопротивления (рисунок 6.8, а) имеет линейный характер при длительности импульса не более 5 с и мощности не превышающей номинальную более чем в 4-7 раз.
Т
емпературная зависимость изменения сопротивления резистора с различными дефектами изображена на рисунке 6.8 б, в, г. Было подвергнуто исследованию 1180 резисторов, значительная часть которых специально была выбрана из числа забракованных производственным контролем. У 136 резисторов была обнаружена нелинейная характеристика. Вся партия была подвергнута испытаниям при номинальной нагрузке в течение 5000 ч при повышенной температуре. За это время отказало 13 резисторов, 11 из них имели нелинейную характеристику (8,1 % от общего количества таких резисторов) и 2-линейную (0,19% от общего количества резисторов с линейной характеристикой). При данном режиме испытаний резисторы с нелинейной характеристикой отказывали почти в 50 раз чаще, чем резисторы с линейной характеристикой. Поэтому появление у резистора во время эксплуатации нелинейности в переходной тепловой характеристике можно считать прогнозом появления в ближайшем времени его отказа.
В основе идеи ускоренных испытаний при форсированных ре­жимах лежат уравнения вида [1]