|
9.3- §. MIKROPROSESSORLARNING TEXNOLOGIK O’LCHASH
VOSITALARIDA QO‘LLANILISHI
Asbobsozlik rivojining hozirgi bosqichi o’lchash vositalari tarkibida mikroprosessorlar — mikroprosessor tizimlari asosiga qurilgan hisoblash
qurilmalaridan keng foydalanish bilan ifodalanadi. O’lchash qurilmalarida bunday
tizimlarining qo‘llanilishi natijasida ikki maqsadga erishiladi: o’lchash qurilmalarining vazifalari kengaytiriladi va ularning tavsiflari yaxshilanadi.
Mikroprosessor tizimlarning (MPT) elektr o’lchash vositalarida foydalanilishi
ularni joylashtirishga va ishlatish algoritmlariga yangicha yondoshishga, axborot
berish imkoniyatlarini oshirishga, aniqligini, ishonchliligini va tez ishlashini yanada oshirishga imkon beradi. Texnologik o‘lchashlar sohasida samarali echimlarni izlash va MPT ichiga qurilgan o’lchash asboblari ishlab chiqish davom ettirilmoqda.
Umumiy holda o’lchash qurilmalari tarkibiga MPT ning kiritilishi quyidagi kabiasosiy vazifalarni hal qilishga imkon beradi: ifodalar bo‘ycha hisoblash (shu jumladan linearizasiya, masshtablash, o‘lchamlar natijalariga ishlov berish va hokazolar);
berilgan algoritm bo‘yicha hisoblash;
statistik ishlov berish; parametrni tahlil qilish (maksimumga, minimumga va hokazo);
statistik tavsifni tuzatish (jumladan, almashtirish koeffisientini tiklash va
signalning nol darajasini tuzatish);
o’lchash qurilmasi ulangan tizimi bilan bog‘lanish;
o‘z-o‘zini diagnostika qilish;
o‘lchashlarni boshqaruv;
o’lchash qurilmasining rejim parametrlarini stabillash yoki dasturiy sozlash.
9.4 – rasm. Texnologik parametrlarni o’lchash uchun MPT o’rnatilgan qurilmalarning struktura sxemalari:
СЭ, СЭ1, СЭ2 –sezgir elementlar; ОЎЭ,ОЎЭ1, ОЎЭ2 – oraliq o’zgartkichli elementlar; К,К1,
К2 – kuchaytirgichlar; ЭК – elektr kommutator; ИФҚ – interfeysli qurilma; Ў – o’lchov (o’lchovlar
to’plami); БТШҚ – boshqaruvchi ta’sirlarni shakllantirish qurilmasi; ОБ – operatsion bo’g’in; АРЎ –
analog-raqamli o’zgartkich; ЧРЎ – chastotaviy –raqamli o’zgartkich; РАЎ – raqamli –analogli –
o’gartkich; МПТ – mikroprotsessorli tizim; и – raqamli indikator.
Biroq MPTni o’lchash qurilmalar tarkibiga ularga bevosita yangi ijobiy
sifatlarni berish bilan bir qatorda, kiritish bu qurilmalarning ancha
murakkablashuviga olib keladi. Murakkabligi bo‘yicha MPT kiritilgan o’lchash
qurilmalari mikro EHM qatnashgan o’lchash tizimlariga yaqindir. Misol tariqasida
hozirgi vaqtda texnologik parametrlar o’lchash qurilmalarini yaratish uchun
foydalaniladigan struktura sxemalarni qarab chiqamiz (9.4-rasm).
YOrdamchi o‘lchashlar uslubini amalga oshiruvchi sxema (9.4 rasm, a) eng
ko‘p qo‘llaniladi. Bunday sxema buyicha yasalgan o’lchash qurilmasi ishida asosiy
parametr va yordamchi parametrlar P1, P2—ta’sir ko‘rsatuvchi kattaliklar (atrof
harorati, atmosfera bosimi va boshqalar) haqidagi axborotdan foydalaniladi. MPT yordamida ta’sir funksiyalari orqali ta’sir ko‘rsatuvchi kattaliklarning ta’sirlarini
hisobga olish o‘lchash qurilmasining xatosini kamaytiradi. Bunday sxemaga ko‘ra
bosimni, haroratni, sathni, sarfni, hajmni va boshqalarni o‘lchash qurilmalari quriladi.
Bunda asosiy va yordamchi parametrlar to‘g‘ri va muvozanatlovchi uslub bilan
o‘lchanishi mumkin. 9.4-rasm, b da MPT kiritilgan o’lchash qurilmasining struktura sxemasi ko‘rsatilgan bo‘lib, u o‘lchashlarni namunali signallar va birgalikdagi o‘lchashlar uslubi bilan amalga oshirishni ta’minlaydi. Mazkur qurilmaning o’lchash qismi P parametrni, M o’lchashni (o’lchashlar to‘plamini), shuningdek, P parametr va o’lchashlar to‘plamini birgalikda o‘lchaydi. MPT axborotga ishlov beradi va o‘lchash jarayonini boshqaradi. Sxema (9.4-rasm, v) bo‘yicha qurilgan o’lchash qurilmasi tarkibiga operasion
bo‘g‘in OB kiradi, unda MPT buyruqlariga ko‘ra boshqaruvchi ta’sirlarni
shakllantirish qurilmasi (BTSHQ) yordamida elementlarni almashtirish uchun zarur o‘lchashlar amalga oshiriladi, bularning natijasida o‘lchanayotgan parametr P ning sezgir element SE ga ta’siri (ta’sirlari) shakllanadi.
Sxemalar (9.4-rasm, b, v) massa, hajm, suyuq muhitlarning zichligi va
boshqalarni yaratishda qo‘llaniladi. MPT dan foydalanishning eng samarali usuli ulardan analitik texnika vositalarida foydalanish hisoblanadi, bunda asosiy va bir qator yordamchi parametrlarni o‘lchash bilan bir qatorda analitik qurilma bo‘g‘inlarini (mantiqiy va o‘xshash) boshqarish va axborotga ishlov berish bilan bog‘liq katta hajmdagi hisoblashlarni bajarish talab qilinadi.
9.5-rasm, a da avtomatik sifat analizatorining umumlashtirilgan struktura
(tuzilma) sxemasi ko‘rsatilgan. Bitta parametrni o‘lchashni amalga oshiruvchi
analizatorlarda o’lchash axborotining asosiy signali u yoki bu detektor D yordamda
analitik qurilma AQ da shakllanadi. Analizatorning xatosini kamaytirish uchun va
uning bir qator sezgir element yordamida me’yorida ishlashini ta’minlash uchun bir qator parametrlarning qiymatlari bo‘yicha statik tavsif tuziladi, analitik qurilmaning rejimli parametrlari stabillashadi va tahlil o‘tkazish uchun zarur ulashlar amalga oshiriladi. Oxirgi ikki vazifa MPT tomonidan BTSHQ orqali amalga oshiriladi.
Analitik blokka tahlil qilayotgan va yordamchi modda (YOM) lardan tashqari namunaviy modda (NM) ni uzatish imkoniyati kuzatiladi, bu esa analizatorning davriy ravishda o‘zini darajalashini ta’minlaydi.
Tarkibni tahlil qilishning ko‘p parametrli uslubini amalga oshiruvchi
analizatorlarda (9.5-rasm, b), tegishli detektorli bir nechta analitik qurilmalardan
foydalaniladi.
Yordamchi va rejimli parametrlarning barcha zarur o‘lchashlarini analitik
qurilmalar parametrlarini o‘lchash bloki PO‘B bajaradi, u EK bloki bilan
kommutasiyalanadi (9.5-rasm, b da PO‘B orasidagi bog‘lanish ko‘rsatilmagan).
9.5 –rasm. MPT o’rnatilgan analizatorning struktura sxemasi.
АҚ, АҚ1, АҚ2,...,АҚn –analitik qurilmalar; Д. Д1, Д2.....,Дn – detektorlar; ПЎБ –
analitik qurilmalar parametrlarni o’lchash bloki (9.4 – rasmda qolgan belgilar keltirilgan)
9.1-jadval.
Do'stlaringiz bilan baham: |
