Bino va inshootlar qurilishi

o‘rtacha otmetka
N
0
quyidagi formula bilan aniqlanadi: 
,
n
4
c
b
a
4
H
i
i
i
0






bu erda n - barcha kvadratlar soni. 
SHakl 7.7.1. 
Joydagi uchastka yuzasini planirovka qilishda yer qazish ishlari balansini nolga 
teng qilgan holda loyihaviy otmetkani hisoblashga doir sxema.
Kvadrtalar barcha uchlarining ish otmetkalari qora otmetkalar bilan planirovka otmetkasi N
0
ayirmasidan chiqadi. 
 
7.8.Aniq va yuqori aniqlikdagi nivelirlash xaqida tushuncha. 
Zamonaviy noyob inshootlarni kurishda o‘rta kvadratik xatoligi 0,1—0,2 mm dan oshmagan 
katta hajmdagi balandlikni o‘lchash ishlarini bajarish talab etiladi. Bu darajadagi yuqori aniqlikni 
ta’minlash imkoniyati bo‘lgan o‘lchash usulini aniqlash uchun jiddiyilmiy —tadkiqot ishlarini 
bajarish talab, etiladi. Asosiy e’tibor yuqori aniqlikdagi nivelirlarni tanlash va tadqiqot etishga, 
maxsus shkala va vizir nishonlarni ishlab chikishga, asbob balandligini etarli aniqlikda, mikrometrli 
nivelir tagligini o‘zgartirishni ta’minlovchi, xamda kisqa nurlar yordamida nivelirlash usulini 
takomillashtirishga qaratiladi. Qisqa nurlar yordamida yuqori aniqlikda geometrik nivelirlash usuli 

---

69 
ishlab chiqilgan va qurilishda hamda ko‘pgina inshootlarning konstruksiyalarini va fundamentlar 
cho‘kishini o‘lchashda asosiy usul sifatida qo‘llanilmoqda. Xozirgi vaqtda bu usul keng tarqalgan, 
uning afzalligi shundan iborat:
-yuqori aniqlikda o‘lchashligi;
-murakkab bo‘lmagan va arzon asboblar talab etilishida;
-qiyin sharoitlarda qurilish maydonlarida o‘lchash ishlarni bajarish mumkinligi, ular 
yordamida keng xaroratli diapazonda montaj yoki beton va yer ishlarini bajarilishi va xokazo. 
YUqori aniqlikda nivelirlash yordamida 10—15 metr oralikda joylashgan ikkita nuqta 
balandligining farqini 0,03+0,05 mm o‘rta kvadratik xatolikda aniqlash mumkin. Bir — biridan bir 
necha yuz metr uzoqlikda joylashgan ikkita nuqta balandligining farkini o‘rta kvadratik xatoligi esa 
0,1+0,2 mm aniqlikda ta’minlanadi. 
Geometrik nivelirlash usulining asosiy kamchiligi axborotni masofadan uzatish yoki o‘lchash 
jarayonini avtomatlashtirishning murakkabligidadir. SHuning uchun ayrim inshootlardan 
foydalanish davrida, ya’ni zaryadlangan zarrachalarni tezlatgichlarini, atom reaktorlarini va boshqa 
yuqori radiatsiyaga ega bo‘lgan inshootlarda yoki yuqori chastotali qudratli kuchlanish manbalarda 
o‘lchashlarni faqat profilaktik to‘xtashlar paytida echish mumkin. SHuning uchun sikllar orasida 
katta intervalli vaqt o‘tadi, o‘lchash laxzasini tanlash murakkablashadi va maksimal deformatsiya 
kutilayotgan davrga to‘g‘ri kelmasligi mumkin. 
Tadkikotlar ko‘rsatadiki, yassi parallel plastinkaga ega bo‘lgan NA-1,N-1,
N-0,5, N
t
-0,07, N
i
-0,04 , Dini-1l, Dini-21T turdagi nivelirlar yuqori aniqlikni ta’minlaydi. 
YOpiq inshootlarda yuqori aniqlikda nivelirlashni bajarish, nisbatan osonroq erishiladi. Bir 
qator mualliflar ning tadqiqotlari shuni ko‘rsatadiki yuqori aniqlikda nivelirlash ochik xavoda 
bajarilganda, soyabondan foydalanishdan tashkari nivelirni qo‘shimcha issiqlikdan ximoyalovchi 
asbobdan foydalanish maqsadga muvofiq bo‘ladi. 
Bu. esa 
i
burchak qiymatini 
2
marta kamaytiradi va nivelirlash aniqligini oshiradi. Barcha 
hollarda nivelirning asosiy shartini tadqiqot qilishda maxsus stend barpo etish lozim. Buning uchun 
bino devorida teng balandlikda 2 ta shkala o‘rnatiladi. Bunday murakkab bo‘lmagan qurilma 
nivelirning bosh shartini zudlikda nazorat qilishni ta’minlaydi. Nivelirning asosiy shartini nazorat 
etish chastotasi asosan, nivelirning turi, tashqi muxitning o‘zgarmasligi, maydondagi silkinishlar 
miqdori va xar bir konkret xolat uchun eksperemental ravishda aniqlanadi. Agar nivelirning asosiy 
sharti ikkilangan nivelirlash usuli bilan tekshirilmasdan, sezilarni elka tengsizligidagi ikkita 
o‘lchashlar oshirilgan bo‘lsa, qarash trubasini qayta fokuslashga alohida etibor berish lozim bo‘ladi. 
Bu holda bosh shartni bajarishda ikkilangan nivelirlash usulidan foydlanish e’tiborga 
molikdir. 
YAssi parallel plastinkali yuqori aniqlikdagi nivelirlarni tadqiq etishda, uning turli 
uchastkalarida baraban bo‘lakchasining qiymatini aniqlash maqsadga muvofiqdir. Buning uchun 
0,5 1.0mm bo‘laklarga bo‘lingan shkala tayyorlanadi va UIL — 21 yoki IZA—2 turidagi o‘lchov 
mikroskopda komporirlanadi, oraliqlarning pasportdagi qiymati bilan baraban sanog‘n bo‘yicha 
aniqlangan interval miqdorini takkoslash natijasida kerakli axborotni olish mumkin. Agar bitta 
shtrixdan emas, balki bissektor yoki vizir nishonning murakkab shaklidan foydalanilsa, baraban 
mikrometrini tadqiq qilishda murakkab bo‘lmagan qurilmadan foydalanish qulaydir. 
SHkala mikrometr vinti yordamida ko‘chirish uchun moslashgan, ko‘chirish miqdorini 
mikrometr yoki soat turidagi indikator yordamida aniqlanadi. Bunday moslama mikrometr 
barabanini tadkiq qilishda talab etilgan oraliqni tanlash imkonini beradi. 
YUqori aniqlikda nivelirlash ishlari tajribasi kursatadiki, noyob nivelir tagligni qo‘llash 
nivelirlash aniqligini va ishlab chiqarish unumdorligini sezilarni oshirishga imkon beradi. Ish 
paytida taglik nivelir shtativining bosh kis miga o‘rnatiladi. Noyob nivelir tagligi platformaga 
o‘rnatiladi va siquvchi planka yordamida maxkamlanadi. Platforma nivelir bilan 100 mm 
balanddikda ravon siljishi mumkin. Bunda nivelir kiyaligi ±10 dan oshmaydi. Noyob nivelir 
tagligini qo‘llab nivelirni o‘rnatish stansiyadagi ish vaqtining 10% ni tashkil etadi. 
Noyob nivelir tagligi yuqori aniqlikdagi nivelir bilan komplektda bo‘lsa, stansiyadagi nazorat 
uslubini o‘zgartirishi mumkin. Ma’lumki, yuqori aniqlikda nivelirlashda stansiyadagi nazorat 

---

70 
ishlari, reykaning asosiy va qo‘shimcha sanoqlar bo‘yicha hisoblanilgan nisbiy balandliklar farqini 
taqqoslashdan iboratdir. Ammo ikki shkalali reykada qo‘shimcha shkala shtrixi asosiy shkala 
shtrixiga nisbatan 2,5 mm ga siljigan bo‘ladi, asosiy shkaladan olingan sanok qo‘shimcha shkaladan 
olingan sanoqdan+98 sanoq barabani mikrometrining 50 bo‘lagiga farq qiladi va nazorat o‘lchoviga 
ma’lum darajada bog‘liq bo‘ladi. Bu asosan qo‘shimcha shkala bo‘yicha sanoq bevosita asosiy 
shkala bo‘yicha olingan sanoqdan keyin olinganda namoyon bo‘ladi. 
Oddiy shtativ bilan asbobning ikkita gorizontida nivelirlash nixoyatda mashshaqatli ishdir. 
Asbob gorizontini o‘zgartirish uchun noyob nivelir tagligidan foydalanish ancha qulay, ayniqsa 
vizirlash chizig‘ini o‘zi o‘rnatadigan nivelirlar qo‘llanilganda. 
Texnologik qurilmalar va inshoot devoriga mahkamlangan reykalar bo‘yicha qisqa vizirlash 
nurli yuqori aniqlikda geometrik nivelirlash, ikkita bajaruvchi bilan amalga oshiriladi. Noyob 
inshootlardan foydalanish vaqtida bu o‘lchashlar bo‘yicha, odatda inshootning holatini taxlil qilish 
uchun barcha shkalalar balandligi hisoblanadi, texnologik kurilmalarga o‘rnatilgan shkaladan uning 
siljishi kuzatiladi, devorga o‘rnatilgan shkala bo‘yicha esa qurilish konstruksiyasining 
deformatsiyasi va fundament cho‘kishi aniqlanadi. Binobarin shunday xolat bo‘lishi mumkinki, 
o‘rtadan turib geometrik nivelirlashni bajarishning imkoni bo‘lmaydi. 
SHakl - 7.8.1. 
Bunday holatlarda vizirlash nuri uzunligi farqini saqlagan holda. nisbiy balandlikni ikkilangan 
o‘lchashini qo‘llash maqsadga muvofiq bo‘ladi (7.8.1- shakl).