Avtomatik boshqarish va rostlash nazariyasi asoslari

d) sifatni ochiq sistema logarifmik chastota xarakteristikalari
bo‘yicha baholash.
Bu baholashlar 
wt(jp) =
K (
p
)
bo‘lgan hol uchun o‘rinli bo‘ladi;
1 + ^ »
qolgan hollarda esa ular juda ham taqribiy hisoblanadi, 
fVt(p)
va 
Wf (p)
orasidagi farq qancha katta bo‘lsa, xatolik ham shuncha katta bo'ladi.
97
www.ziyouz.com kutubxonasi

---

Tebranuvchan o‘tkinchi jarayon xarakteristikasi uchun yopiq sistema 
AChX rezonans chastotasi cor ochiq sistema LAX ning kesishish 
chastotasi oos bilan teng, bu yerda oos - kesishish chastotasi LAX chastota 
o‘qi bilan kesishishiga mos keluvchi chastota. Bu holda W « «
ji
/
oo
s, 
o'tkinchi jarayon vaqti esa tp = (K2)7c/cos ga teng boTadi. Agar o‘tkinchi 
jarayon xarakteristikasi pionoton boTsa, u holda tj ~ it/oos. 
Tebranuvchanlik masalasiga kelsak, o‘tkinchi jarayon juda kichik 
tebranuvchanlikka ega, chunki faza bo‘yicha zaxira A^S30°, amplituda 
bo‘yicha zaxira esa 
AL
£ 6 db ga teng va bu chiziqli masshtabda 2 ga 
mos keladi.
Minimal fazali sistema tebranuvchanligini baholash uchun faqat bitta 
LAX ga ega boTishning o‘zi kifoyadir.
Agar kesishish chastotasida LAX 20 db/dek. qiyalikka ega boTsa, 
tebranuvchanlik ruxsat etilgan chegarada boTadi. Shu bilan birga 
bunday qiyalikka ega boTgan uchastka qancha keng boTsa, tebra- 
nuvchanlik shuncha kichik boTadi.
Ta’kidlash lozimki, ochiq sistemaning LAX yordamida o‘tkinchi 
jarayon sifati analizi yoki ABS sintezi juda oson amalga oshiriladi.
Nazorat savollari:
1. Sifatni tadqiq qilish bevosita metodlarining afzalliklari.
2. Sifatni tadqiq qilish bilvosita metodlarining ma'nosi.
3. Sifatni tadqiq qilishning qaysi kriteriyalari bilasiz?
4. Sifatni tadqiq qilishning chastotali kriteriyalari qaysi 
xarakteristikalaridan aniqlanadi?
5. Ochiq holdagi sistemaning logarifmik xarakeristika bo‘yicha 
sifatini aniqlash.