|
Teng qalinlikdagi interfensiya. Yupqa shaffof plastinkaga 1,2 nurlar tushayotgan bo'lsin.
Sindirish ko'rsatkichi n bo'lgan muhitda yorug’lik to'lqini vakuumdagiga nisbatan n marta kichik tezlik bilan (u = c/n) tarqaladi. Shuning uchun vakuumda yorug’lik to'lqini biror chekli vaqt davomida muhitdagiga nisbatan n marta uzunroq yo'lni bosib o'ta oladi. Bu yo'l uzunligini optik yo'l uzunligi deb atash odat bo'lgan. Bundan tashqari, yorug’lik to'lqini optik zichligi kichikroq muhit bilan optik zichligi kattaroq muhit chegarasidan qaytganda uning fazasiga o'zgaradi. Plastinkaning ustki va ostki tekisliklaridan qaytgan nurlarningg interferensiyalashishi natijasida yorug’lik intensivligining maksimumi, Nyutonhalqalari.Monoxromatik yorug’lik dastasi linzaning tekis sirtiga normal tushayotgan bo'lsin. Shu nurlardan biri - birinchi nur S nuqtaga yetib borgach, qisman qaytadi, qisman havo qatlami ichiga kirib boradi. Nurning bu ikkinchi qismi D nuqtadan qaytadi. 1 va 2 nurlar o'zaro kogerent, ular ustma-ust tushib, interferensiyalashadi. Natijada kontsentrik halqalar kuzatiladi, bu halqalar Nyuton halqalari deb ataladi. Yorug’ halqalariningradiuslari
ifoda bilan, qorong’i halqalarning radiuslari esa
Yorug’lik interferensiyasi optik asboblarning sifatini yaxshilash (optikani ravshanlantirish) va qaytaruvchi qatlamlar olish uchun ham qo'llaniladi. Hozirgi obyektivlarda ko'plab linzalar bo'ladi, shuning uchun ularda yorug’likning qaytishi va demak yorug’lik oqimining isrofi ko'p bo'ladi. Bularni yo'qotish uchun linza sirtiga sindirish ko'rsatgichi linza moddasining sindirish ko'rsatkichidan kichik bo'lgan yupqa qatlam o'tkaziladi.
Havo-qatlam va qatlam-shisha chegaralarida yorug’likning qaytishi tufayli 1 va 2 kogerent nurlarning interferensiyasi ro'y beradi. Qatlam qalinligi d sindirsh ko'rsatkichi n va shisha sindirish ko'rsatkich nsni shunday tanlab olish mumkinki, interferensiyalanuvchi nurlar bir-birini so'ndiradi. Bunda ularning amplitudalari teng optik yo'l farqi (2m+1) l0/2 ga teng bo'lishi kerak. Hisoblarning ko'rsatishicha n = bo'lganda amplitudalar teng bo'lar ekan ns> n > n0bo'lganligi uchun ikkala sirtda yarim to'lqin uzunligi yo'qotiladi va yorug’lik tik tushganda, 2nd = (2m+1)/l0bo'ladi. Bu yerda nd-qatlamning optik qalinligi. Odatda m=0, nd=l0/4. Shunday qilib n = bo'lganda va qatlamning optik qalinligi l0/4 ga teng bo'lganda, interferensiya natijasida qaytgan nurlarning so'nishi (o'chirilishi) va o'tgan nurlar intensivligining ortishi kuzatiladi. Optik sistemaning ravshanlashuvi ana shundaniborat.
Teng qiyalikdagi interfensiya. Plastinkaga parallel qilib musbat linza o’rnatamiz va uning fokal tekisligiga ekran joylashtirilgan tarqoq yorug’lik tarkibida har xil tomonlarga yo’nalgan nurlar bor. Tekisligiga parallel va plastinkaga i/1burchak ostida tushadigan nurlar plastinkaning ikkala sirtidan qaytgach P nuqtada yig’ilib, bu nuqtada shunday yoritilganlik hosil qiladiki, uning kattaligi optikaviy yo’llar farqiga bog’liq bo’ladi. Boshqa tekisliklar yotuvchi, lekin plastinkaga o’sha i1?burchak ostida tushuvchi nurlar ekranning boshqa nuqtalarida yig’iladi va bu nuqtalar ekranning O markazidan P/nuqta bilan bir xil masofada bo’ladi. Bu nuqtalarning hammasida yoritilganlik bir xil bo’ladi. Shunday qilib,plastinkaga
bir xil i1burchak ostida tushuvchi nurlar ekranda bir xil yoritilgan va O markazli aylanada joylashgan nuqtalar to’plamini hosil qiladi. Xuddi shunday, boshqa i1burchak ostida tushuvchi nurlar ekranda bir xil yoritilgan va boshqa radiusli aylanada joylashgan nuqtalar to’plamini hosil qiladi. Natijada ekranda birin – ketin joylashgan yorug’ va xira doiraviy polosalar vujudga kelib, ularning umumiy markazi O nuqtada bo’ladi. Har bir polosani plastinkaga bir xil i1burchak ostida tushuvchi nurlar hosil qiladi. Shuning uchun ham mana shu yozilgan shart sharoitda hosil bo’ladigan interferension polosalar teng qiyalikdagi interferensiyalardeyiladi.
Interferensiya hodisasining qo’llanilishi. Interferometrlar. Interferension plastinkalar.
Interferometrlar. Interferensiya manzarasi interferensiyalanuvchi to'qinlarning yo'llari ayirmasiga juda sezgir bo'ladi: yo'llar ayirmasining kichik o'zgarishlarida uzunliklar va burchaklarni aniq o'lchash uchun, shuningdek, shaffof muhitlarning sindirish ko'rastkichlarini aniqlash uchun ishlatiladigan asboblarning tuzilishi shunga asoslangan. Sanoatda interferometrlar metall va boshqa silliqlangan sirtlarning sifatini (silliqligini) tekshirishda kengqo'llaniladi.
Bu oqim nurlaridan birining yo'lini ko'raylik. Yarim shaffof qatlamda 1 nur "ikkiga ajraladi": qisman qatlam orqali o'tadi va S ko'zguga tushadi. (1 nur), qisman esa qaytadi va tekshirilayotgan B sirtga tushadi (1 nur).So'ngra 1
nur ko'zgu va yarim shaffof qatlamdan qaytgandan so'ng va 1" nur tekshirilayotgan sirtdan qaytib, yarim shaffof qatlamdan o'tgandan so'ng M mikroskopga tushadi. Bu nurlar kogerent nurlardir, shuning uchun ular interferensiyalanadi, ularning interferensiyalanish natijasida mikroskopning ko'rish maydonida ko'rinib turadi.Interferension plastinkalar. Plastinka yuqoriga yorug’likning ikkita kogerent parallel dastalarini qaytaradi, ulardan biri plastinkaning yuqori sirtidan yorug’lik qaytishi hisobiga, ikkinchi esa pastki sirtidan qaytishi vujudga keladi. Ikkinchi dasta plasinkaga kirishda va undan chiqishda sinadi. Plastinka yuqoriga, bu ikki dastadan tashqari, plastinka sirtlaridan uch, besh va hokazo marta qaytish hisobiga vujudga keladigan dastalarni ham yuboradi. Lekin biz bu dastalarni, ularning intensivligi juda kichik bo’ladi.
P I N B O R D T EX N I K A S I
Ta`lim beruvchi:
Do'stlaringiz bilan baham: |
