Атом-эмиссион спектроскопия усулларида қўлланиладиган асосий атомлаш ва қўзғатиш манбалари
Атомлаш манбаси
|
Харорат 0С
|
Намунанинг холати
|
Аниқланадиган минимал масса улуш, %
|
Нисбий стандарт четланиш, St
|
Аланга
|
1700-4800
|
Эритма
|
10-7-10-2
|
1*10-2-5*10-2
|
Электр ёйи
|
3000-7000
|
Қаттиқ
|
10-4-10-2
|
1*10-1-2*10-1
|
Электр учқуни
|
10000-12000
|
Қаттиқ
|
10-3-10-1
|
5*10-2-10-1
|
Индуктив боғ ланган плазма
|
6000-10000
|
Қаттиқ
|
10-8-10-2
|
1*10-2-5*10-2
|
Аланга фотометрияси усулида таҳлил қилинадиган модданинг намуна эритмаси алангага пуркалади. Бунда аланга қатъий аниқ қайта такрорланувчан харорат бўлиши керак. Аланга юқори ҳароратли бўлганлиги учун эритманинг эритувчиси буғланиб (ёниб) кетами. Алангада текшириладиган қаттиқ модданинг майда заррачалари қолади. Бу заррачалар олдин термик диссоциаланиб, эркин атомлар (атомар газ) ҳосил қилади:
МАэритма МА + эритувчи; МА М + А
Ҳосил бўлган атомларнинг бир қисми аланга энергиясини ютиб қўзғатилган ҳолатга ўтади.
Қўзғатилган холатдан асосий холатга ўтган атом ўз табиатига хос частотага эга бўлган фотонлар чиқаради. Чиқаётган фотонлар тегишли оптик системадан ўтганда, бу система нурнинг умумий дастасидан частоталари аниқланадиган моддага тўғри келадиган қисминигина ўтказади. Ушбу нурланишнинг интенсивлигини ўлчаш асосида текшириладиган модданинг табиати ва миқдори аниқланади. Тажрибалар жараёнида аниқ ва қайта такрорланувчан натижалар олиш учун аланганинг ҳарорати бир хил бўлишини таъминлаш керак. Бунинг учун горелкага ёнилғи ёки оксидловчи (ҳаво ёки кислород) қатъий ўзгармас тезлик ва босимда берилиш керак. Аланга ҳарорати юқори бўлса, чизиқларнинг интенсивлиги ва усулнинг сезувчанлиги ортади.
Аланга фотометрияси (АФ)
АФ – бироқ элемент атоми томонидан нурланишни ажралишига ёки нур ютишига асосланган СФ метод ҳисобланади. Нурни ютиш ёки ажратиш атомлар электронларини бир энергетик ҳолатидан иккинчи энергетик холатига ўтиши билан боғлиқдир. Электронларни пастки энергетик қатламдан юқори энергетик қатламга ўтиши ташқи нурланишни таъсирида (нурланиш частотаси) =(Е1-Е0)/h мажбурий содир бўлади.
Нурланишда атомларни кўчиши ўз-ўзича ёки ташқи нурланишни таъсирида ҳосил бўлишида шу атомга у ажратадиган нур частотасидаги нур таъсирида бўлади.
Эмиссион фотометрияда одатда атомлар электронларини қатламларига ўтиши ўз ҳолича ўзгариши қўлланилади.
АФ – аланга ҳароратини бироз пастлиги сабабли асосан, осон диссоциаланадиган моддаларни аниқлашга имкон яратади.
АФ – усули уни мосламаларини соддалиги, таҳлил қилишни осонлиги, бошқа физик-кимёвий таҳлил усулларига қараганда аниқлиги, сезгирлиги, уни кенг қўлланилишига асос бўлади. У асосан қўзғолувчи элементларни ва атомларга осон диссоциалашган моддаларни аниқлашда ишлатилади. Бу усул асосан ишқорий ва ишқорий-ер металларни микрограмма миқдорини фарм препаратлар таркибидан аниқлашда кенг қўлланилади.
Ҳозирги вақтда АФ усули билан 50 дан ортиқ элементларни 2-4% аниқликда аниқланади.
Текширилувчи модда эритмасини намунаси пурка гич ёрдамида газ горелкаси алангасига юборилади, алангада модда газ холатга ўтади, бунда текширилувчи моддадан ҳосил бўлган атомлар нур манбаидан нур ютади ёки нур ажратади, бу нурлар фотоэлементда аниқланади. Ҳосил бўладиган фототок миқдори модда концентрациясига пропорционал бўлади. Ҳосил бўлган фототок катталиги, ҳосил бўлган атомлар миқдоридан ташқари аланга таркибига, уни хароратига, пуркагич конструкциясига ва пуркалиш сифатига боғлиқ бўлади. Фототок катталиги бирикмаларни атомларга диссоцияланиш даражасига ва атомларни алангада ионланиш даражасига ҳам боғлиқ бўлади.
АФ – ёниш ҳосил қилувчи манба сифатида турли газ-аралашмалари қўлланилади.
Do'stlaringiz bilan baham: |