Yorug’lik interferensiyasi

Ko’p nurli interferometrlar. Ko’pincha ko’p nurli intorforometrlar teng kengli yo’lakchalar hosil qiluvchi, keng qo’llaniladigan interferometrlar asosida tuziladi. Interferometrning optik sxemasi (4.11,a-rasm) va ularning xossalari ko’rib chiqamiz.

4.11-rasm. Ko’p nurli interferometr: a-sxema; b, v – ikki nurli va ko’p nurli interferensiyalardagi manzaralar.

Monoxromatik yorug’lik 1-manbai (odatda, spektral simob lampasi) 2-ko’zgu va 3-kondensor yordamida 6-ob’ektivning fokal tekisligida joylashgan 4-diafragmani yoritadi. Diafragmadan va 5-shafof plastinkadan o’tgan nurlar 6-ob’ektiv tomon yo’naladi, undan parallel dastalar bo’lib chiqadi.

Gorizontal tekislikdagi ob’ektiv pastida 7-pona va 8-tekshiruvchi qism joylashgan. Ponaning pasti etalon hisoblanadi. Undan va tekshiriluvchi sirtdan nurlar qarama-qarshi yo’nalishda qaytib bir-birini ustiga tushadi va interferensiyalanadi. Agar ikkala sirt (etalon va tekshiriluvchi) yoki ulardan biri qaytaruvchi qatlamga ega bo’lmasa yuzaga kelgan interferension manzarada dastalar qatnashmaydi.
Olingan manzara ikki nurli bo’ladi; u yo’lakchalardagi intensivlikning sinusoidan taqsimlanishini xarakterlaydi (4.11,b-rasm).
Interferension manzara 6-ob’ektiv fokusi yaqinida yoki teleskopik lupa yordamida joylashganda oddiy ko’z bilan ko’rish mumkin.
Aynan shu asbobda ko’p nurli interferensiya olish uchun etalon sirt yorug’lik bo’luvchilar qatlami bilan tekshiriluvchi sirt-ko’zguli qatlam bilan qoplanadi. Ko’zguli qatlam bo’shliqli sachratish yoki eritmadagi kumush bilan qoplashdan hosil qilinadi. Ikkala holda ham yuqori qaytaruvchi koeffitsientga ega bo’lgan tekis qalinlikli qaytaruvchi qatlam olinadi.
Havo ponasini monoxromatik yorug’lik bilan yoritishda sirtlar orasida kogerent dastalar ko’p martalik qaytishi bo’ladi. Bu dastalar interferensiyasi natijasida ko’p nurli interferension manzara yuzaga keladi. Yo’llarining aniqligi va kontraktligi jihatidan ikki nuri interferensiyadan yaxshi bo’lgan manzara hosil bo’ladi. Ko’p nurli manzarada qaytgan yorug’ligida yorug’ maydonda ingichka qora chiziqlar, o’tayotgan yorug’likda qoraygan maydonda yorug’ chiziqlar hosil bo’ladi. (4.11,b, v-rasm). Chiziqlarning kontraktligi va kengligi tekshiruvchi va etalon sirtlarning qaytarish koeffitsientiga bog’liq. Ikki nurli interferometr kabi tekshiriluvchi sirtning sifati yo’lakchalarning egrilanishidan baholanadi. Interferension yo’lakchalarning to’g’ri chiziqli shakldan og’ishi interferometr mikrometri yoki mikroskop yordamida o’lchanadi.