Современные методы исследования Тестлер Кристалл бетиндеги атомлардың бетлик тығызлығы шамасы қандай? А

А – сезгирлигиниң киши болыўы
Б – үлгиниң элементлик қурамын муғдарлық анықлаў қыйынлығы
В – биринши ионлардың изертленип атырған бетти бузыўы
Г – элементлердиң тереңлик бойынша бөлистирилиўин қатламба қатлам анықлаў қыйынлығы

27. 
    Екинши ионлар спектриндеги сызықлар интенсивлигине қайсы характеристикалар тәсир жасайды?
    

А – анализленип атырған компонентаның пуўланыў коэффициенти
Б – анализленип атырған компонентаның ионланыў итималлығы
В – биринши ионлар ағымы
Г – ионлар детекторының күшейтиў коэффициенти

28. 
    МСВИ (екинши (вторичный) ионлардың масс-спектометриясы) методы жәрдеминде максималь сезгирлик ҳәм минималь бузылыўлар менен беттиң қурамын сапалық жақтан анықлаў ушын қандай шәртлер орынланыўы керек?
    

А – Биринши ионлар тоғының үлкен тығызлығы
Б – ионлар дәстесиниң кесе кесими үлкен болып ионлар тоғының киши тығызлығы
В – ионлар дәстесиниң кесе кесими киши болып ионлар тоғының үлкен тығызлығы большой ток первичных ионов при минимальной площади ионного пучка

29. 
    МСВИ (екинши (вторичный) ионлардың масс-спектометриясы) методы қандай мүмкиншиликлерге ийе?
    

А – қәлеген қатты затты (металлар ҳәм қуймалар, ярым өткизгишлер, диэлектриклер) анализлеў мүмкин
Б – водородтан баслап трансуран элементлерине шекем анықланады
В – метод бузыўшы емес ( изертленип атырған үлгини бузбайды)
Г – элементлердиң тереңлик бойынша қатламба қатлам бөлистирилиўин анықлаўға болады
Д – бул метод пенен қәлеген қурамға ийе болған үлгидеги қәлеген элементти муғдарлық анықлаўға болады

30. 
    Беттиң элементлик қурамын РФЭС (рентген фотоэлектронлық спектроскопия) методы жәрдеминде анықлаў неге тийкарлаған?
    

А – үлгиден шығып атырған характеристикалық рентген нурының спектрин регистрациялаў