Современные методы исследования Тестлер Кристалл бетиндеги атомлардың бетлик тығызлығы шамасы қандай? А

В – I_A/I_B=(N_A/N_В)(Z_B/Z_A)²
Г – I_A/I_B=(N_A/N_В)(Z_А/Z_В)²

22. 
    Екинши (вторичный) ионардың масс-спектрометриясы методын қолланғанда беттиң элементлик қурамын анықлаў тийкарында қайсы информация пайдаланылады?
    

А – беттен серпимлик шағылысқан ионлардың энергетикалық бөлистирилиўи
Б – бет атомлары менен серпимли емес өз ара тәсирлесиўден кейинги ионлардың энергетикалық бөлистирилиўи
В – екинши (вторичный) ионлардың массалық сан (m/z) бойынша бөлистирилиўи
Г – екинши (вторичный) ионлардың масса бойынша бөлистирилиўи
Д – екинши (вторичный) ионлардың энергия бойынша бөлистирилиўи

23. 
    МСВИ (екинши (вторичный) ионлардың масс-спектометриясы) методында шығыўдың типик тереңлиги қандай?
    

А – 0,5 - 2 нм
Б – 10 - 20 нм
В – 1 - 2 мкм

24. 
    МСВИ (екинши (вторичный) ионлардың масс-спектометриясы) методы жәрдеминде қандай элементлер анықланыўы мүмкин?
    

А – массасы биринши ионлар массасынан киши болған
Б – массасы биринши ионлар массасынан үлкен болған
В – бул метод жәрдеминде беттеги қәлеген атом детекторланады

25. 
    МСВИ (екинши (вторичный) ионлардың масс-спектометриясы) методын қолланғанда қандай екинши ионлар детекторланыўы мүмкин?
    

А – тек ғана бир мәрте зарядланған оң ионлар
Б – тек ғана бир мәрте зарядланған терис ионлар
В – тек ғана терис ямаса оң атомар ионлар
Г – ионланыў дәрежеси ҳәр қыйлы болған оң ҳәм терис атомар ҳәм молекуляр ионлар

26. 
    МСВИ (екинши (вторичный) ионлардың масс-спектометриясы) методының кемшиликлери қандай ?