Barcha maruza mashg‘ulotlarni nazariy qismi, maruza mashg‘ulotlarni o‘tkazish uchun topshiriq, nazorat savollari va adabiyotlar ro‘yxati keltirilgan

Tuzuvchi: t.f.n., dots. Mamasodiqov YU.

Taqrizchilar: t.f.d., prof. S.F.Ergashev
t.f.n., dots. K.X. Axunov

№	MUNDARIJA
1	Kirish. Optik nazorat usullari	7
2	Optronlar va ularning tuzilishi	13
3	Yorug‘lik manbalari	19
4	Yorug‘lik diodlarining ish rejimlari	25
5	Fotopriyomniklar va ularning asosiy xarakteristikalari	31
6	Optoelektron o‘zgartirgichlarni xisoblash	36
7	Optronlarning ulanishsh sxemalari va ish rejimlari	46
8	YOrug‘lik diod optimal konstruksiyasi	50
9	Statik rejimdagi optoelektron o‘zgartirgichlar	53
10	Optoelektron impulьs generatori	58
11	Namlikni nazorat qiluvchi ikki optronli o‘zgartirgichlar	60
12	Funksional yoyilmali optoelektron qurilmalar	67
13	Ko‘p to‘lqinli ko‘p kanalli optoelektron qurilmalar	72
14	Zichlikni nazorat qiluvchi optoelektron qurilma	76
15	Atmosfera tashkil etuvchilari va ularning optik xarakteristikalari	80
16	Uglevodorodlarning spektralp xarakteristikalari	83
17	Optik gaz analizatorlar	86
18	Uglevodorodlarning portlashga xavfli konsentratsiyasini masofadan nazorat qiluvchi ikki to‘lqinli optoelektron qurilma blok-sxemasinituzish	90
	Foydalanilgan adabiyotlar	96

1-ma’ruza. KIRISH. OPTIK NAZORAT USULLARI.

Reja: 1. Integral soya usuli (ISU).

2. Skanerlovchi soya usuli (SSU).

3. YOrug‘lik o‘tib boruvchi integral usullar.

4. YOrug‘likni o‘tkazuvchi skanerlash usuli.

5. Nurni qaytishga asoslangan integral usul.

6. Ko‘p parametrli usullar.

Tayanch so‘zlar: integral soya, skanerlovchi soya, tirqishga integrallovchi, fotopriyomnrik, optik, tirqishga skanerlovchi, svetodiod,nur qaytish integrallovchi, ko‘p parametrli usul,yorug‘lik oqimi.

Nazorat qilishning optoelektron usullarini ikki xususiyatiga ko‘ra klassifikatsiyalash mumkin. Optoelektron o‘lchov qurilmalari (OO‘Q) o‘tib boruvchi va qaytuvchi yorug‘liklarda ishlashi mumkin [6,7]. Ko‘p parametrli murakkab o‘lchov qurilmalarida birgalikda o‘tuvchi va qaytuvchi bir necha yorug‘liklarni ishlashini qo‘llash mumkin. Bundan tashqari, tekshirilayotgan ob’ektning o‘lchanayotgan parametrlari to‘g‘risidagi axborotni tashuvchisi sifatida fotopriyomnikga tushayotgan yorug‘lik oqimini qo‘llash yoki optoelektron juftlik «svetodiod-fotopriyomnik» dan nazorat maydonidagi tasvir yoyilmasini shu maydonning optik bir jinsli emasligidan foydalanib ma’lumot olish mumkin. YOrug‘lik oqimidan ajratib olishga asoslangan usullarni – integral, tasvir yoyilmasini qo‘llashga asoslangan usullarni esa – skanerlash usullari deb nomlaymiz.

YUqorida aytib o‘tilgan xususiyatlariga tayanib optoelektron usullarni quyidagilarga bo‘lish mumkin:
1) integral soya; 2) skanerlovchi soya; 3) tirqishga integrallovchi; 4) tirqishga skanerlovchi; 5) nur qaytish integrallovchi; 6) ko‘p parametrli usullar.