Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar II xalqaro ilmiy anjumani

ИССЛЕДОВАНИЕ
Al
2
O
3
МЕТОДОМ ПОРОШКОВОЙ 
РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ
 
Ш.Т. 
 
Хожиев
1
, И.О. Косимов
1
, Б.Б. Гаибназаров
2
, 
Д.М. Муродкобилов
2
, М.Ш. Тешаев
2 
1
Институт Биоорганической Химии Академии Наук РУз, г. Ташкент.
 
2
ТашГТУ, ул.Университетская 2, г.Ташкент. 
Окси д алюми ния Al
2
O
3
— бинарное соединение алюминия и кислорода. В 
природе распространён в виде глинозёма, составляющая часть глин, 
нестехиометрической смеси оксидов алюминия, калия, натрия, магния и т. 

---

Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar

II xalqaro ilmiy anjumani 
 
19-20 noyabr 2021 yil 
463 
д. В модификации корунда имеет атомную кристаллическую решётку [1]. 
Бесцветные нерастворимые в воде кристаллы. Практически не растворим в 
кислотах. Растворяется в горячих растворах и расплавах щелочей. 
Является диэлектриком, 
но 
некоторые исследователи 
считают 
его полупроводником n-типа [1]. Диэлектрическая проницаемость  9,5—
10. Электрическая прочность 10 кВ/мм. В настоящей работе порошковый
рентгенофазовый метод анализа использовали для изучения структуры, 
состава, свойств сырьевых материалов и продуктов оксида алюминия Al
2
O
3
. 
С его помощью исследовали минералогический и фазовый составы [2].

Порошко вая 

рентге новская 
дифра кция [3]— 
метод 
исследования 
структурных характеристик
материала  
при 
помощи
дифракции 
 рентгеновских 
лучей (рентгеноструктурный анализ) на порошке 
или поликристаллическом образце 
исследуемого 
материала, 
также 
называется методом порошка. Результатом исследования является 
зависимость интенсивности рассеянного излучения от угла рассеяния. 
Соответствующий 
прибор 
называют порошковым 
дифрактометром. 
Преимуществом метода является то, что дебаеграмма для каждого вещества 
уникальна и позволяет определить вещество даже тогда, когда его структура 
не известна.
 
Монохроматический пучок рентгеновского излучения 
направляется на образец исследуемого материала, растертого в порошок. На 
фотоплёнке, 
свернутой 
цилиндром 
вокруг 
образца, 
изображение 
(дебаеграмма) получается в виде колец. Расстояние между линиями одного и 
того же кольца на дебаеграмме позволяет найти брэгговские углы отражения. 
Затем, по формуле Брэгга – Вульфа 2
d sin
Ɵ= nλ можно получить отношение 
d/n
расстояния между отражающими плоскостями к порядку отражения. 
Рентгеновский анализ: позволяет решать следующие задачи: Определение 
качественного состава образца, полуколичественное определение 
компонентов образца, определение кристаллической структуры вещества. А 
также прецезионное определение параметров элементарной ячейки, 
определение 
расположения 
атомов 
в 
элементарной 
ячейке 
(полнопрофильный анализ — метод Ритвельда), определение размера 
кристаллитов (области когерентного рассеяния) поликристаллического 
образца. Исследование текстуры в поликристаллических материалах. Кроме 
того, исследование фазового состава вещества и изучение диаграмм 
состояния, оценка размера кристалликов в образце, точное определение 
констант решетки, коэффициента теплового расширения, анализ минералов. 
На рис.1 приведена спектрограмма образца Al
2
O
3
полученная методом 
порошкового дифрактометра . Для данного образца определены индексы 
Миллера (hkl), а также межплоскостное расстояние (d
hkl
) представляющий 
огромный интерес для кристаллографии.

---