Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar II xalqaro ilmiy anjumani

Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar

II xalqaro ilmiy anjumani 
 
19-20 noyabr 2021 yil 
182 
равномерно распределены по всему объему. К сожалению, электронная 
микроскопия ограничена в своих возможностях по исследованию и 
диагностике поверхности. Несмотря на огромные плюсы, которые она имеет, 
существует несколько неоспоримых недостатков. К таковым следует 
отнести, в первую очередь, необходимость достаточного вакуума для 
получения относительно хорошего разрешения, отсутствие возможности 
просмотра больших образцов, достижение атомного разрешения в 
критических для поверхности условиях, когда энергия пучка электронов 
достигает величины до 300 КэВ. 
Рисунок.1. Элементного структурного анализа примесных атомов никеля в 
кремния на электрон микроскопии. 
В рисунок – 1 показало элементного структурного анализа на 
электронная микроскопия. Спектр 6 с кластерами никеля 10,6 % и спектр 13 
чистой кремнии. Изменяя толщину образца можно управлять числом Шоттки 
диодов и формировать многокаскадные структуры. Предварительные 
экспериментальные данные показали, что на основе таких многокаскадных 
структур можно создать приборы с объемной интеграцией, интегральные 
фотоэлементы с аномально высоким фото напряжением, диоды и 
стабилитроны, фотоприемники с шириной спектральной чувствительностью 
и новый класс датчиков физических величин. Совершенствование 
технологии формирования кластеров примесных атомов с управляемой 
структурой и размерами позволит создавать много каскадные барьеры 
Шоттки, и принципиально новые наноэлектронные приборы. 
Литература. 
1.
Zikrillayev Nurullo, Saitov Elyor. Silicon materials -the future of 
photovoltaics. Monograph - LAP LAMBERT Academic Publishing. 2019, 
ISBN: 987-620-0-50311-4. 
2.
K.T. Ho, C.-D. Lien, M.-A. Nicolet. J. Appl. Phys. 57 (2), 232 (1985). 
3.
К.В. Шалимова. Физика полупроводников (М., Энергия,1976) гл. 10, с. 
276. 

---