B. R. Nazarov oliy geodeziya

Teodolit T1 OT-02 va OT-02M teodolitlariga ko‘ra qo‘shimcha quyidagilarga ega: mo‘ljalga aniq qaratish uchun okulyar mikro­ metriga; trubaning gorizontal aylanish o‘qiga o‘rnatiladigan adi­ lakka; asbobni nuqta ustiga markazlash uchun optik markazga.

Vertikal o‘qi silindrik, yarim kinematik, o‘z-o‘zidan moslana­ di. Qarash trubasi to‘g‘ri markaziy astronomik, okular qismi bi­ lan zenit orqali o‘tkaziladi. Okular mikrometri kichik bo‘lagining qiymati 1'' ga teng, u teleskopik linza rasmida tayyorlangan. Go­ rizontal va vertikal doiralar bo‘yicha sanoqlar T05 teodolitiga o‘xshash optik ponali mikrometr yordamida amalga oshiriladi. Masalan, T1 teodoliti gorizontal doirasi bo‘yicha sanoq quyida­ gi tartibda olinadi:

146°20'

3' 07,7'' (1-birlashtirish)

70

08,1'' (2-birlashtirish)

146° 23' 07,9''

Qiyoslab aytish mumkinki, OT-02 va OT-02M teodolitlari­ da yanada murakkabroq yassi parallel plastinkali mikrometr qo‘llanilgan. T05 teodolitidagidek T1 teodoliti ham uchta silin­ drik adilaklarga ega.

Quyida 4.1-jadvalda yuqori aniqlikdagi optik va elektron teo­ dolitlarni texnik tavsiflari beriladi.

Elektronika, mikroprotsessorli texnika va optik asbobsoz­ lik sohasidagi keyingi yillarda erishilgan yutuqlar geodeziyada qo‘llanadigan yuqori aniqlikdagi o‘lchash texnikasini avtomat­ lashtirish imkonini berdi. Keyingi yillarda ishlab chiqarilayotgan yuqori aniqlikdagi teodolitlarda, an’anaviy optik teodolitlar­dagi limtdan sanoq olish optik mikrometr qurilmasi o‘rniga, sanoq olishning­ dinamik tizimi optik-elektron skanerlash qo‘llanilganki, u burchak o‘lchash jarayonini avtomatlashtirish hamda asbob o‘lchash aniqligini­ oshirish imkonini beradi.

Bunday elektron teodolitlarga misol qilib ET-02, T2000S, Trimble 3600DR va boshqalarni ko‘rsatish mumkin.

Quyidagi 4.1-jadvalda yuqori aniqlikdagi­ optikaviy va elektron teodolitlarning texnik tavsifi berilgan.