A. Z. Umarov Avtomobillar texnik ekspluatasiyasi

Elektron 
mikroskop 
bilan 
tekshirish. 
Ma’lumki, 
mikroskopning hal qilish chegarasi (katta-kichikligiga ko‘ra juda 
mayda zarrachalami ko‘rib ajratish mumkin bo‘lgan qobiliyati) ko‘p 
jihatdan tekshirilayotgan jism ustiga tushayotgan yorug‘likning 
to‘lqin uzunligiga bog‘liq (yorug'lik to‘lqin uzunligi qanchalik 
kichik bo‘lsa, mikroskopda shunchalik mayda zarrachalarni 
(detallami) ko‘rish mumkin). Rasmiy optik mikroskoplarning 
ko‘rish qobiliyati unchalik katta emas: rasmiy yorugMikda 
qaraganda kattaligi 0,5 
\i
keladigan zarrachalami ko‘rish mumkin. 
Katta aperturali immersion obyektlami qo‘llab va qisqa toMqinli 
ultragunafsha yorug‘likda mikrofotorasmga tushirish paytida 
ko‘rinish chegarasini 0,2 ц gacha kamaytirish mumkin. Biroq 
ultraqisqa to'lqinli elektron nur (maxsus qurilgan elektron 
mikroskoplarda) bilan qo‘llanilganda mikroskopning hal etish 
qobiliyati bir necha baravar (0,002 
\x
gacha) ortadi. Shunday qilib,
36

---

elektron mikroskop yordamida mayin dispers moddalar: metall 
to‘rlarga o‘tirib qolgan tutun va changlar, suvni loyqa qilib turgan 
gil moddalar (shu maqsadda bir tomchi loyqa suv predmet oynasi 
ustida quritiladi) tekshirilishi mumkin.
Afsuski, 
elektronlarning 
moddalar 
(uning 
zarrachalari 
yorugiik nuri uchun shaffof boiib, elektron nurda odatda shaffof 
emas) ichiga o iish qobiliyati juda ham cheklangandir. Shuning 
uchun 
elektron 
mikroskopda 
tekshirish 
shu 
usul 
bilan 
tekshirilayotgan zarrachalarning shakli bilan katta-kichikligi haqida 
tushuncha beradi, xolos.
Bundan tashqari, ixcham jinslarni tekshirish uchun “replika 
usuli” (mayin kolloid yoki kvars-polistirolli va boshqa plyonkalar 
hosil qilish y o ii bilan o‘sha jins yuzasi rasmini tushirib olish usuli) 
ham mavjud boiib, bu usul kristallar yonlari sathining, Shuningdek 
minerallardagi reaktiv ta’sir etmagan jilolangan yuzalarning nozik 
xossalarini ko‘rsatadi.