|
4.4. Киритилган текширув воситалари учун КИС таркиби
Микропроцессор қурилмалари учун тестли диагнозлаш муаммосини ечиш узоқ вақт ташқи қурилмаларга - автоматлаштирилган текширув воситаларига юклатилади. Лекин микропроцессор платаларни мураккаблиги ва тўйинганлиги тобора ошиб бориши билан ташқи ташҳис усулининг самарадорлиги ишлаб чиқувчиларни қониқтирмади, шунинг учун микропроцесор таркибига ўзгартиришлар кирита бошладилар. Натижада, микропроцессор таркиби шундай ўзгартирилдики, микропроцессор буйруқларини бажармасдан, уни барча регистрларда ёзиш ва ўқиш амалини тўғридан-тўғри кузатиш учун имкон тестли ташҳис режимида яратилди. Бу ҳолда аппарат сарфлари 10% ўсади, бир марта учрайдиган (ягона) носозликларни аниқлаш эҳтимоли 98% га етади.
Автоном тестли диагнозлаш жараёнини ташкил этиш, тестли таъсирларни берувчи схемаларни диагнозланувчи қурилма реакцияларини таҳлил этувчи схемалар бўлишини талаб этади. Бунда, ўрнатиш тажрибаларини ўтказишга йўналтирилган, ҳажми бўйича катта бўлмаган тестли дастурларни ҳамда етарлича узун псевдотасодифий (2 ва кўпрок) кетма-кетликларни генерацияловчи дастурларни биргаликда ишлатиш қулай, таҳлил усуллари сифатида эса арифметик жамлаш ёки сигнатурали ихчамлантиришдан фойдалантирилади.
Қўшимча жиҳозларни бундай таркиби, бир кристалли ёки секцияли МП асосида бажарилган мураккаб қурилмалардан ўз-ўзини тестлашни ташкил этиш имконини беради. Процессорлар, хотира қурилмалари, киритиш-чиқариш процессорлари ва ихтиёрий мантиқ схемаларини тестли ташҳис учун КИС КР1828 мажмуаси ишлаб чикилган.
Тест-таркибни интеграл бажарилиши, уларни текширув объектлари билан конструктив бирлаштириш имконини бериб, “яроқли-яроқсиз” принципи бўйича қурилмаларни аниқ иш частоталарида текширишни амалга оширишни, констант носозликлар ва қисқа туташувларнигина эмас, балки параметрик бузулишларни ҳам самарали аниқлашни таъминлайди.
Тест-таркибни ҳар бир намунали алмашлаш элементига (НАЭ - типовой элемент замены - ТЭЗ) киритилса, энг катта самарага эришилади, у носоз ТЭЗни тез аниқлаш ва алмаштириш имконини беради. НАЭда носозликларни созлаш учун тест-таркибдан фойдаланиш мумкин. Натижада, мураккаб ва қимматли кўргазма қуролларни (стендларни) қўллаш зарурати йўқолади.
КР1828 серияли микропроцессор ТТЛШ технологияси бўйича тайёрланган ва сигналлар сатҳи ҳамда манбанинг кучланиш номиналлари бўйича кенг тарқалган микропроцессор мажмуаларнинг (МПМ) КИСи билан бирга қўлланиши мумкин.
Ҳар хил турдаги процессорларни киритилган диагностик ядро схемасини қуриш учун мўлжалланган доимий хотира қурилмаси (ДХК) дастурланувчи ДХК, ва ихтиёрий мантиқ схемаси КИС КР1828ВЖ1 ҳамда тезкор хотира қурилма (ТХК)сини киритилган диагностикасини қуриш учун КИСнинг таркибли схемасини кўриб чиқамиз.
КИС КР1828ВМ1 таркибий схемаси 4.7-расмда келтирилган, ундаги бошқарув қурилмаси (БК) берилган буйруқ ва ташқи сигналлар асосида, КИСнинг барча тугунларини ишлаши учун зарур сигналларни тузади. Операцион қурилма (ОК) жамлагич билан аккумулятордан иборат ва олинадиган маълумотлар асосида зарурий ўзгартиришларни бажаради. Компаратор олинган натижаларни ташқи ДХКда сақланадиган эталон қийматлар билан солиштиради.
4.7-расм
Ҳолатни индикация схемаси, тестлаш натижаларини ҲА ва ЙЎҚ, сигналлари кўринишида тузиш учун мўлжалланган. КИС разрядли-модуль принципи бўйича қурилганлиги, тузиладиган ва таҳлил этиладиган сигналларни узунлигини амалда ошириш имконини беради.
КИС қуйидаги режимларни бирида ишлаши мумкин. Максимал даври 255 тенг бўлган псевдотасодифий кодларни генератори: камаювчи (инкремент) ва кўпаювчи (декремент) кетма-кетликларни генератори (0 дан то 256 гача ва тескари тартибда); сигнатурали анализатор; ўтиш сонини ҳисобчиси ва олинган ва текширув жамини солиштирадиган жамлагич.
Айтиш лозимки, замонавий ТХҚнинг КИС учун, амалда зарурий узунликдаги универсал текширувчи тести йўқдир. Агар текширув объекти бўлиб бир неча унлаб ТХКдан иборат ячейка бўлса, аҳвол янада оғирлашади. КР1828ВМ2 нинг таркибий схемаси 4.8-расмда кўрсатилган. КР1828ВМ2 КИС аппарат бошқариш учун қуйидаги тестлар танланган: тўғри ва қўшимча адреслар бўйича мурожаат этиш; пропорционал бўлиш; разрядлар бўйича югуриб юрувчи “1” ва “0” лар.
4.8-расм
Биринчи иккита тест жамлагични ва ТХҚ дешифрация схемасини текшириш учун, охиргиси эса маълумот трактини ташҳис қилиш учун мўлжалланган. Тестларни жами узунлиги 40*n, бу ерда n – ТХҚ ячейкалари сони. 4.6, 4.7-расмда тактли импульслар кириши 0 - ҳарфи билан, микросхемани иш режимига улашнинг кириши SТ билан белгиланган. МПҚларни киритилган диагностика билан қуришга мисоллар ҳамда микропроцессор қурилмаларни ўз-ўзини тестлашни ташкил этишга тузилган асосий талаблар батафсилроқ ёритилган:
тестлаш жараёнида, тестлар кетма-кетлиги таъсирида МПК, ҳолатини ўзгариши ҳар хил маъноликка олиб келиши мумкин булган тескари алоқани узишни таъминлайди;
барча асинхрон схемалар ишини синхронлаштириш (динамик ТХК, регенерация контроллери, узилишларни қайта ишлаш схемаси, хотирага тўғридан-тўғри мурожаат канали ва ҳоказо);
- вақт берувчи схемаларни (таймерлар, кутувчи мультивибраторлар а бошқалар) ишини имкони борича қисқартирилган вақт оралиқларига ўтказиш;
- синхронловчи сигналлар фронти сонини имкони борича камайтиришга эришиш;
- ташҳис қўйиш схемаларида мантиқий сатҳлар ўзгаришини содир этадиган, синхронланувчи сигналлар фронти сонини имкони борича камайтиришга эришиш;
- уч ҳолатли схемаларда бўладиган ёки тузилиши мумкин ҳар хил маъноли сигналлар сатҳини йўқотиш.
Do'stlaringiz bilan baham: |
