“Yupqa qatlamlar fizikasi va texnologiyaSI”

b) Elementlarning sezgirlik koeffitsienti usuli
Elementlarning sezgirlik koeffitsienti usulining aniqlik darajasi kichikroq bo’lsa ham, ahamiyati juda kattadir. ×unki bu usul universal bo’lib, har qanday elementning kontsentratsiyasini hech qanday etalon qo’llanmasdan aniqlash imkonini beradi. Bu erda har bir element ma’lum bir sezgirlik koeffitsientiga ega deb qabul qilinadi. Elementlarning sezgirlik koeffitsienti birorta o’ta toza elementga nisbatan olingan. Bunday element sifatida ko’pincha kumush elementi olinadi.
Biror jism tarkibidagi X - elementning noma’lum S_x miqdori (kontsentratsiyasi) atom % larda quyidagi formuladan topiladi:
(17.3)
I_x - x element oje-pikining balandligi (pikdan-pikgacha bo’lgan masofa): S_x-x elementning sezgirlik koeffitsienti: S(Ii/Si) - jismdagi barcha elementlarning E/S nisbatlarining yig’indisi.
Bu erda har xil elementlar uchun S ning qiymatini maxsus jadvaldan - katalogdan olish mumkin. Ammo aniqlikni oshirish uchun elementlarning sezgirlik koeffitsientini matritsa tuzatmalarini hisobga olgan holda hisoblash mumkin.
S=S_T×a (17.4)
S_T -S ning jadvaldan aniqlangan qiymati:
a - matritsa tuzatmasi
(17.5)
Bu erda l_i^j - j elementlardan tashkil topgan matritsasi tarkibidagi i element oje-elektronlarining chiqish chuqurligi. l_iⁱ - bir xil i elementlardan tashkil topgan matritsadan i oje-elektronlarining chiqish chuqurligi. N - atom zichligi, r - orqaga qaytish koeffitsienti.
N, l va r parametrlar maxsus formulalar yordamida hisoblanadi.
OES metodi yordamida chuqurlik bo’yicha ma’lumot olish uchun u bilan birgalikda yuzalarni ionlar bilan emirish usulidan foydalaniladi. Bunda avvaliga yuza edirilish qalinligining vaqtga bog’liqligini aniqlab olinadi. Vaqtning ma’lum bir qiymatlarida edirilish to’xtatilib OES yordamida jismning shu erdagi tarkibi aniqlanadi. Umuman tarkibni aniqlash ionli edirish bilan bir vaqtda ham olib borilishi mumkin.