“Yupqa qatlamlar fizikasi va texnologiyaSI”

Tayanch so’zlar:
Kimyoviy bog’lanishlar, sifatiy analiz, elementar tarkib, kimyoviy siljishlar, oje-piklar, atomlar konsentrasiyasi, kimyoviy birikma, atomlarning kimyoviy holati, oksidlanish, miqdoriy analiz, kimyoviy tarkib, oje-elektronlar toki, oje-pikning amplitudasi (intensivligi), birlamchi elektronlar, ikkilamchi elektronlar, oje-elektronlarning chiqish chuqurligi, etalonlar, ionizasiya, oje-elektronlarning chiqish ehtimolligi, sezgirlik koeffisiyenti, atom zichligi, orqaga qaytish koeffisiyenti, yuzalarni ionlar bilan yemirish, ionli yedirish.


Savollar

1. 
   Sifatiy oje-analiz va uning ishlatilish sohalari.
   
2. 
   Kimyoviy siljishlar. XVV oje-piklarning tokini hisoblash.
   
3. 
   Miqdoriy analiz. Oje-elektron tokini hisoblash.
   
4. 
   Miqdoriy analizda tashqi etalonlar usulini qo’llash, hisoblash formulalari.
   
5. 
   Miqdoriy analiz uchun elementlarning sezgirlik koeffisiyenti usulini qo’llash va hisoblash formulasi.
   
6. 
   Nima uchun toza element sifatida kumush elementi olinadi?
   
7. 
   g elementning tekshirilayotgan jismdagi noma’lum N_g kontsentratsiyasini aniqlash formulasi.
   
8. 
   Miqdoriy analiz qilishda oje-elektronning toki sifatida oje-pikning amplitudasi (intensivligi) yoki pik osti yuzasi olinishi mumkin.
   

Adabiyotlar

1. 
   226-233 betlar
   
2. 
   236-241 betlar
   
3. 
   27-32 betlar
   
4. 
   26-36 betlar
   

18-ma’ruza


Reja

1. 
   Ikkilamchi ionlarning mass-spektroskopiyasi (IIMS).
   
2. 
   Ionlar ta’sirida yedirish.
   
3. 
   Ionlarni qattiq jism bilan ta’siridagi singdirilish va sochilish turlari.
   

IKKILAMChI IONLARNING MASS-SPEKTROSKOPIYaSI (IIMS)
Ilgari ko’rib o’tganimizdek qattiq jism yuzasiga ionlar kelib urilganda undan to’rt xil turdagi zarralar uchib chiqishi mumkin. Shulardan ionlar va neytral atom (molekula)larning uchib chiqishi yuzaning emirilishiga olib keladi. Bu zarralarni massa bo’yicha analiz qilish jismning yuza tarkibi haqida to’g’ridan-to’g’ri ma’lumot beradi. Ikkilamchi ionlarni analiz qilish nisbatan oson bo’lganligi uchun hozirgi paytda IIMS metodi juda ko’p qo’llaniladi. Bu usulning sezgirligi juda yuqori bo’lib, ko’pgina elementlar uchun 10^-4% ni tashkil qiladi. OES dan farqli ravishda bu usul yordamida N va Ne ni ham aniqlash mumkin. Ammo uchib chiqayotgan ionlarning miqdori juda ko’p kattaliklarga bog’liq bo’lganligi uchun, bu usul yordamida analiz miqdori ko’p qiyinchiliklarga olib keladi. Bundan tashqari agar jism yuzasining tarkibi juda ham murakkab bo’lib unda har xil birikmalar mavjud bo’lsa ularni massa bo’yicha ajratish (ayniqsa katta massalarda) qiyinlashadi. Lekin maxsus usullar qo’llash orqali analizni katta aniqlikda olib borish mumkin.
Yuzaning edirilish kattaligi unga tushayotgan birlamchi ionlarning energiyasiga, massasiga va tushish burchagiga bog’liq bo’ladi. IIMS usulida ko’pincha O₂⁺ va Ar⁺ ionlari ishlatiladi. Bunda ularning energiyasi ~1-20 keV atrofida bo’ladi.
Yuzalarni analiz qilishda tushayotgan ionlarning intensivligini kichik, tushish burchagini (normalga nisbatan) esa kattaroq (80-85^o) qilib olishga harakat qilinadi. Bunda yuzaning edirilishi ancha kamayadi. hajmiy analiz qilish uchun esa yuzaning edirilish tezligi oshiriladi. Umuman edirilish tezligini juda katta oraliqda o’zgartirish mumkin: 10^-5 dan 10³ Å /s gacha.