Yarim o’tkazgichlar taqiqlangan zonasi kengligini aniqlash ishning maqsadi

Tajribani o’tkazish uslubiyati. 

Yarim  o’tkazgichlarning  solio’tirma  elektr  o’tkazuvchanligining,  solishtirma 

elektr  qarshiligining  yoki  yarim  o’tkazgichlardagi  asosiy  bo’lmagan  zaryad 

tashuvchilar  kontsentratsiyasining  temperaturaga  bog’liqligini  o’lchash  (Van-der-

Pua,  Holl  effekti,  fotoo’tkazuvchanlik)  yordamida  yarim  o’tkazgichlar  taqiqlangan 

sohasi  kengligini  aniqlash  mumkin.  Yuqorida  qayd  qilingin  barcha  usullarda  yarim 

o’tkazgich  materialda  kontakt  hosil  qilish  masalasi  kiyinchilik  tug’diradi.  Ushbu 

laboratoriya  ishida  maxsus  tayyorlangan  yarim  o’tkazgichli  rezistor  qarshiligining 

temperaturaga bog’liqligini o’lchash yo’li bilan taqiqlangan soha kengligini aniqlash 

usuli  keltirilgan.  Bu  usulning  blok  sxemasi 

1-rasmda

  keltirilgan.  Bu  usulga  ko’ra, 

namuna  (1)  isitish  pechi  (2)  ga  joylashtirilgan  bo’lib,  uning  qarshiligi  to’g’ridan-

to’g’ri  ommetr  (3)  yordamida  o’lchab  olinadi.  Namuna  (1)  ning  temperaturasi 

xromel-alyumen  termojuftligi  (4)  da  hosil  bo’layotgan  termoelektr  yurituvchi 

kuchning  millivoltlardagi  qiymati  voltmetr  (5)  yordamida  o’lchab  olinadi  va 

termojuftlikning  gradiurovka  jadvali  yordamida  millivoltlarga  mos  keluvchi 

temperatura  aniqlanadi.  Namunani  qizdirish  maxsus  pech  yordamida  unga 

beriladigan  kuchlanish  boshqarish  mumkin  bo’lgan  laboratoriya  avtotransformatori 

yordamida  tahminlanadi.  Tajriba  natijalari,  ya’ni  yarim  o’tkazgichning  qarshiligi 

ommetr  (3)  dan  va  termojuftlikda  hosil  bo’luvchi  termoelektr  yurituvchi  kuchni  

voltmetr  (5)  dan  qayd  qilinadi  va 

1-jadvalga

  yozib  boriladi

.  1-jadvaldagi

  boshqa 

kattaliklar ana shu o’lchab olingan ikkita kattalik yordamida hisoblanib, to’ldiriladi.