Tasdiqlayman” O‘quv ishlari bo‘yicha prorektor “tasdiqlayman” O‘quv ishlari bo‘yicha prorektor

4.2-rasm . Sirkulyar magnitlash.
Aralash magnitlashda turli joylashgan nuqsonlar ikkita o‘zaro perpendikulyar va o‘zgaruvchan maydonlar yordamida topiladi. Magnitlovchi magnit maydonlar bir xil chastotaga ega bo‘lmasligi lozim. Ushbu usul nisbatan kam qo‘llaniladi.




б) Маҳсулотдан ўзаро перпендикуляр токларни ўтказиш



а) ТО дан электр токини ўтказиш ва электр магнитдан магнит оқимини юбориш


4.3-rasm . Aralash magnitlash
Magnit kukunli usul quyidagi jarayonlardan iborat:

1. 
   ob’ekt yuzasini nazoratga tayyorlash;
   
2. 
   magnitlash jarayoni;
   
3. 
   magnit kukuni yoki suspenziyani surkash;
   
4. 
   defektogrammalarni olish;
   
5. 
   nuqsonni aniqlash;
   
6. 
   nomagnitlash;
   

Magnit kukunni tenshiriluvchi ob’ektga surkash ikki usul bilan bajariladi: quruq va ho‘l.

Quruq usulda quruq magnit kukuni ishlatiladi. Ushbu usul g‘adir-budir yuzali detallarni nazorat qilishda tavsiya etiladi. Zarrachalar o‘lchamlari 0,1....10 mkm.

Ho‘l usulda dispersiya muhitdagi magnit kukunlar aralashmasi, ya’ni magnit suspenziyalar ishlatiladi.

Magnit kukunlar aniq magnit xossalarga ega bo‘lishi kerak: magnit singdiruvchanligi yuqori va o‘lchamlari iloji boricha 0,1 mkm bo‘lishi lozim. Ko‘pincha qora magnit kukun Fe₃O₄ qo‘llaniladi.

Nazorat imkoniyatini turli rejimlarda solishtirish uchun sezgirlikni uchta darajasi ishlatilinadi.

Sezgirlikni shartli darajasi	Sun’iy nuqson o‘lchamlari, mkm
	Kengligi	CHuqurligi
A	2,5	25
B	10	100
V	25	250

B - asosiy daraja; A - ma’suliyatli detallar uchun; V - nazoratni boshlang‘ich bosqichida qo‘llaniladi.

Bunda quyidagi magnit kukunli defektoskoplardan foydalaniladi: Statsionar defektoskoplar - UMDE-10000, UMDE-2500, MD-10P, MDS-5, MDS-1,5. Siljuvchi defektoskoplar - MD-50P, DMP-3M, DMP-2. Olinuvchi defektoskoplar - GTMD-70, 77PMD-3M.