Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar II xalqaro ilmiy anjumani

Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar

II xalqaro ilmiy anjumani 
 
19-20 noyabr 2021 yil 
353 
a)
b) 
2-rasm
. CoreAFM rusumli AKMdan umumiy (a) va kontiliver qoʻyish (b) 
paytidagi rasmlari. 
Atom kuch mikroskoplari sirtni ~10
8 
martagacha kattalashtirib berish 
imkoniga ega. Qurilmaning bir nechta ishlash maromlari mavjud. Bizning 
tadqiqotlarda tasvirlarni olishda statik kuch rejimidan foydalanildi. Atom kuch 
mikroskopi yordamida dastavval p-Si taglikning tasviri olindi. O‘lchashlar 
gorizontal va vertikal bo‘yicha 1µm×1µm va 5µm×5µm o‘lchamlarda statik kuch 
maromida olib borilgan. p-Si taglikning va Fe/SiO
2
/p-Si gibrid strukturasining ikki 
o‘lchovli (2D) va uch o‘lchovli (3D) tasvirlari 3-4-rasmlarda keltrilgan. 
a) 
b) 
3-rasm
. p-Si taglikning “statik kuch” maromida olingan ikki o‘lchovli (a) 
va uch o‘lchovli (b) sirt tasvirlari (1µm×1µm). 
a) 
b) 
4-rasm.
Fe/SiO
2
/p-Si gibrid strukturasining “statik kuch” maromida 
olingan ikki o‘lchovli (a) va uch o‘lchovli (b) olingan sirt tasviri (5µm×5µm). 

---

Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar

II xalqaro ilmiy anjumani 
 
19-20 noyabr 2021 yil 
354 
p-Si taglik sirtining oʻtacha g‘adur-budurligi ~11.4 nm atrofida. Fe/SiO
2
/p-Si 
gibrid strukturasi sirtining g‘adur-budurligi esa ~198 nm atrofida. Natijalar shuni 
ko‘rsatmoqdaki Fe/SiO
2
/p-Si gibrid strukturasi sirti to‘lqinli koʻrinishga ega bo‘lar 
ekan. Yakuniy xulosa chiqarish uchun yuqoridagi natijalar yetarli bo‘lmay sirt 
tasvirlarini dinamik kuch, magnit kuch va boshqa maromlarda ham olishni davom 
ettirish, namunaning boshqa xususiyatlarini tadqiq etish zarur. 
Foydalanilgan adabiyotlar 
1.
N.V. Volkov, A.S. Tarasov, E.V. Eremin, S.N. Varnakov, S.G. 
Ovchinnikov and S.M. Zharkov, Magnetic-field- and bias-sensitive conductivity of 
a hybrid Fe/SiO2/p-Si structure in planar geometry. Journal of Applied Physics v. 
109, 123924 (2011). 
2.
Нагорнов Ю.С., Ясников И.С., Тюрьков М.Н. Способы 
исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной 
микроскопии. Тольятти: ТГУ, 2012. 58 с.