O’zbekiston respublikasi oliy va o’rta maxsus ta’lim vazirligi iqbol meliqo’ziyev

YE
min
-yoritilganlikni olidngi tо‗ldiruvchi yorug‗lik olinadi. Oxirgi 
usul , ya‘ni lyuksmetr bilan kam yoritilganlik maydoni qidiriladi. Kontrastni 
о‗lchashda eng muhimi montaj kadralarini olishda doimiylikni о‗lchashdadair. 
Bunday о‗lchashlarda katta bо‗lmagan kamchiliklarga yо‗l qо‗yiladi. Lekin 
kinotasvir vaqtida bir usulni tanlab oxirigacha shu usulda davom ettirish kerak 
bо‗ladi, chunki 
YE 
min
-yoritilganlikni о‗lchashda kо‗rsatkichlari har xil bo‗ladi. 
Yoritilganlikka qо‗yiladigan talablardan biri bu asosan yoritilganlik va ekspozitsiyani 
hisoblash formulalar orqali о‗lchanadi. 
𝜏
(
)
 

---

23 
lyuks
-sekunda nuqtali tasvirga olish ekspozitsiya hisoblash analitik yо‗li bilan 
aniqlanadi. 
YE
-eksponimetrik nuqtadagi obyektni yoritilganligi-lyuksda; 
-shu nuqtadagi obyektning ravshanlik koeffitsiyenti; 
-viderjka, sekunda; 
τ-obyektivning konstruksiyasiga bog‗liq bog‗liq bо‗lgan о‗tkazuvchanlik 
koeffitsiyenti; 
-obyektivning nisbiy tuynigi (diafragma); 
-plyonka yoki yorug‗lik sezuvchi elekment ustiga tushayotgan yorug‗likni shu 
nuqtadagi burchagi (yorug‗lik nuri va optik о‗q orasidagi);
виннетирование
( ) 
- optik tasvirning masshtabi. 
Eksponometriya amaliyotida bu formula bilan kamdan-kam foydalaniladi. 
Umumiy ekspozitsiya uchun plyonkani yorug‗lik sezgirligi