Mavzu: Ultrabinafsha nurlar fotoelektron elektrometrning

II -bob. Fotoelektronlar spektrometrining tuzilishi.

2.1 To’xtatuvchi(tormozlovchi )maydonli analizatorga ega bo’lgan spektrometrlar

2.2 Fotonlar manbai.

2.3 To’rt turli analizatorni yig’ish shartlari.

2.4 Yuqori vakkum olish.
III -bob Fotoelektron spektroskopiya yordamida metallar va yarim o’tkazgichlar zonalarining parametrini aniqlash.

3.1 Metal sirti zonalarining parametrlarini aniqlash.

3.2 Aralashmasi yo’q ideal yarim o’tkazgich zonalarining parametrlarini o’rganish.
Xulosa
Hayotiy faoliyati xavfsizligi
Iqtisodiy qism
Foydalanilgan adabiyotlar

Kirish.
Keyingi 20-25 yil ichida yuzalarning tarkibini,tuzilishini va xususiyatlarini o’rganishga juda katta e’tibor qaratilmoqda.Bu esa o’z navbatida yuzalarning tekshirish usullarining kengayishiga va rivojlanishiga olib kelmoqda.Bunga asosiy sabab jismlarning qator(emessiya,optik, yemirilishga chidamlilik,ayrim mexanik ,fizik va ximiyaviy)xususiyatlarining k’op jihatdan uning ichki qatlamlariga emas,balki yuza qatlamlariga bog’liq ekanligidir.Jumladan hozirgi zamon texnalogiyasida ,xususan mikro va optoelektronikada , qattiq jismning yuza va yuza osti qismi asosiy o’rinni egallaydi.Bu qatlamlarning tarkibini va tuzilishini o’zgartirish uchun juda ko’p usullar qo’llaniladi.Ionlarni implantatsiya qilish,diffuziya,impulsli electron dastalari va lazer nurlari bilan ishlov berish,yuqori haroratda qizdirish.Undan tashqari qattiq jism yuzada molekulyar oqimlardan foydalanib kerakli kristallarning yupqa epifaksial qatlamlarini hosil qilish ham juda ahamiyatlidir.

Zamonaviy tekshirish usullari jism yuzasiga zarralar (elktron,ion,neytral atom,yoki molekula,foton(to’lqin tabiatini tekshirmaganligimiz uchun fotonlarni ham zarra deb ataymiz)),keskin qizdirish yoki kuchli elektr maydoni bilan ta’sir qilib,undan uchib chiqayotgan zarralarni har tomonlama analiz qilishga asoslangan.Amalda ionlar,elektronlar va fotonlar ta’siriga hamda analizga asoslangan usullar ko’p qo’llaniladi.

Qattiq jism yuzalarining electron tuzilishini o’rganish uchun ultrabinafsha nurlarning fotoelektron spektroskopiyasi usulidan keng foydalaniladi.Bu usul yuzalarning zonalari parametrlarini aniqlash,ularda elektronlar taqsimoti to’g’risida bevosita axborot bera oladigan yagona usulidir.Bu bitiruv ishi to’rt turli fotoelektron spektrometrining tuzilishini o’rganishga bag’ishlangan.