Tok o’tkazuvchi qatlam
Himoyalovchi
qatlam
Qatlam qarshiligi, Om/sm
Au
— — —
0,03
0,04
Cu
Ni
0,02
0,04
Cu
Ag
0,02
0,04
Al
Ni
0,1
0,2
Yupqa qatlamli IS lar tayyorlashni texnologik marshruti
Yupqa qatlamli RS-IS strukturasini tayyorlash.
Printsipial elektr sxemasi:
Yupqa qatlamli RC-IS topologiyasi: 9.18 rasm
1-rezistor R(xrom)
2-
tok
o‘tkazuvchi
yo‘lchalar
va
kontakt
maydonchalari (mis,tagida xrom qatlami)
3- kondensatorning pastki qoplamasi (Al)
168
4-kondensatorning dielektrik qatlami (germaniy monooksidi GeO)
5-kondensatorni ustki qoplamasi (Al)
6-himoyalovchi qatlam(kremniy monooksidi SiO).
Yupqa qatlamli RC- strukturani to‘siq (maska) yordamida tayyorlashni 2 bosqichga
bo‘lish mumkin:
I. Rezitsiv va tok o‘tkazuvchi qatlamlarni hosil qilish vakuum kamerasida
uzluksiz jarayonda amalga oshiriladi.
Xrom qatlamini uchirib hosil qilish jarayonida qoldiq kislorod bilan
ta‘sirlashib, hosil bo‘lgan Cr qatlamining solishtirma qarshiligi ortadi. Taglik harorati
200-250
0
C oralig‘ida bo‘ladi. Xrom chanlatgichi qizdirilganda vakuum sifati
yomonlashadi, chunki uchirgich sirtidagi va xrom parchasidagi mavjud gazlar ajralib
chiqadi. Gaz ajralishi to‘xtagandan so‘ng vakuum ko‘tarilib yaxshilanadi. Shundan
so‘ng to‘siq olib tashlanib taglik yuzasiga va tekshiruvchi sirtga xrom qatlamini
uchiriladi. Kerakli qalinlikdagi xrom qatlamini hosil qilingandan so‘ng , changlatgich
to‘siladi va bu taglik o‘rniga boshqa taglik o‘rnatiladi va xrom qatlamini hosil
qilinadi(rezistorlar).
Xromdan farqli holda mis moddasi suyuq holatdan uchiriladi. Mis qiyin
eruvchi metallar bilan o‘zaro ta‘sirlashmaydi. Qiyin eruvchi metallardan uchiruvchi
sifatida molibden ishlatiladi, chunki mexanik ishlov berish nisbatan oson va issiklikni
yaxshi o‘tkazadi. Misni qizdirish jarayonida, uning sochilishi bo‘lmasligi uchun
bosqichma - bosqich olib boriladi: avval eritib olinadi, so‘ngra uchiruvchidan
o‘tayotgan tokni sekin asta oshirib boriladi to kerakli uchirish haroratiga erishguncha
so‘ngra to‘siq ochiladi va taglikda mis qatlamini hosil qilinadi (tok o‘tkazuvchi
qatlam va yo‘lchalar).
Kondensator va himoyalovchi qatlamlar boshqa qurilmada hosil qilinadi. Bu
usulda taglikda hosil qilingan rezistor va tok o‘tkazuvchi qatlamlarning
parametrlarini vakuum kamerasidan olib tekshirish va to‘g‘rilash imkonini mavjud
bo‘ladi.
Himoyalovchi SiO - monooksid qatlamini tantal yoki molibdenli uchirgich
yordamida hosil qilinadi. Monooksid juda yuqori adsorbsiyalash xossasiga ega
bo‘lgani uchun, monooksid qatlamini hosil qilishdan oldin taglik qizdirilib, yutilgan
gazlardan yaxshilab tozalanadi vakuum yaxshilangandan so‘ng taglikda monooksid
qatlamini hosil qilinadi.
169
Do'stlaringiz bilan baham: |