Handbook of Photovoltaic Science and Engineering

Table 9.3
Lattice constants, force constants, and Poisson ratios for selected III-V binary
compounds. Values from Reference [37]
Material
Lattice constant
[nm]
C
11
[10
10
N/m
2
]
C
12
[10
10
N/m
2
]
Poisson ratio,
ν
AlP
0.546354
GaP
0.54512
14.12
6.25
0.307
14.05
6.203
0.306
InP
0.58686
10.22
5.76
0.360
InP
10.11
5.61
0.357
Ga
x
In
1
−
x
P [
x
=
0
.
516]
0.333
GaAs
0.565318
11.81
5.32
0.311
11.91
5.951
0.333
InAs
0.60583
8.329
4.526
0.352
Ge
0.5657906
12.89
4.83
0.273
12.40
4.13
0.250

---

384
HIGH-EFFICIENCY III-V MULTIJUNCTION SOLAR CELLS
10
8
6
4
2
0
J
SC
[mA/cm
2
]
−
1000
0
1000
∆
q
[
arcsec]
1.88
1.86
1.84
1.82
1.80
1.78
Eg
[eV]
Compression <-|-> Tension
Theoretical variation
of 
J
SC
vs. 
∆
q
(or 
E
g
)
Ga
x
In
1
−
x
P
700
°
C
V/III 
=
140
Figure 9.12
Saturated photoelectrochemical current density of Ga
x
In
1
−
x
P as a function of the
lattice mismatch as measured by X-ray rocking-curve peak separation in units of arc seconds, or
equivalently as a function of the resulting
E
g
[35]. The growth temperature is 700
◦
C and V/III
ratio (PH
3
/(TMGa
+
TMIn)) is 140. The dashed line is included to guide the eye
where
θ
B
is the Bragg angle and
ν
GaP
x
+
ν
InP
(
1
−
x)
is the Poisson ratio for Ga
x
In
1
−
x
P
obtained from Poisson ratios for GaP and InP (see Table 9.3). (The Poisson ratio is
defined as the negative of the ratio of the lateral to the longitudinal strains under uniaxial
stress.) If the epilayer is fully relaxed, the last multiplicative term of equation (9.19)
goes to one. A plot of
θ
versus
x
for Ga
x
In
1
−
x
P on GaAs for these two extremes is
shown in Figure 9.13(a). The critical layer thickness is simply the balance between the
coherent energy created by strain, the relief of this strain energy by the introduction of
dislocations, and the self-energy of dislocations. Below the critical layer thickness, the
lowest-energy state of the system is an epilayer with a lattice constant, in the plane of
the interface between the epilayer and the substrate, equal to the lattice constant of the
substrate. Above the critical epilayer thickness, the lowest-energy state is one composed of
some epilayer strain and some strain-relieving dislocations. The problem was first solved
by Matthews and Blakeslee [36]. The relationship between lattice mismatch and layer
thickness is shown in Figure 9.13(b).
Referring to Figure 9.12, for
θ
=
0, the critical layer thickness is infinite and
J
SC
is a measure of the intrinsic minority-carrier transport quality of the epilayer in the absence
of misfit dislocations. The solid line with negative slope is the theoretical variation of
J
SC
with
θ
. For
θ <
0, the epilayer is In-rich (
x < x
LM
), and its band gap is lower than
that of lattice-matched Ga
x
In
1
−
x
P. Hence,
J
SC
increases with decreasing
θ
. For
θ >
0,
the epilayer is Ga-rich (
x > x
LM
). At first,
J
SC
decreases with increasing
θ
in line with
the In-rich portion of the curve, but then falls off rapidly with increasing
θ
. The critical

---

MATERIALS ISSUES RELATED TO GaInP/GaAs/Ge SOLAR CELLS
385
6
8
10
−
4
2
4
6
8
10
−
3
2
4
6
8
10
−
2
2
4
Lattice mismatch
10
1
10
2
10
3
10
4
Layer thickness
[Å]
(b)
Coherent
Semicoherent
b
= 5.65 Å/
√
2
n 
= 0.33
400
200
0
−
200
−
400
0.54
0.53
0.52
0.51
0.50
0.49
Composition 
x
of Ga
x
In
1
−
x
P
(a)
−
1
−
2 
×
10
−
3
0
1
2
Lattice mismatch
Coherent
Relaxed
Peak separation
[arcsec]
Cu K
a
radiation
(400) reflection
Thick epilayer
No substrate tilt