Д. В. Харьков графит в науке и ядерной технике г. Новосибирск 013 Монография

 
и
 
hk0
 
свидетельствуют об относительно больших размерах областей когерентного 
рассеяния (областей, в пределах которых сохраняется периодическая 
структура) как в направлении, перпендикулярном к графитовым слоям, так и 
в плоскости слоев. В то же время значительное уширение пиков с индексами 
общего типа
 
hkl
 
означает, что в структуре графита сохраняется большое 
число дефектов упаковки (ошибок в чередовании слоев). Из 
рентгенодифрактограмм можно оценить как межплоскостные расстояния, так 
и величину области когерентного рассеяния (ОКР) методом Вильямсона-
Холла. [71].
Параметры элементарной ячейки были уточнены методом наименьших 
квадратов (МНК) с помощью программы [72] c использованием положений 
дифракционных максимумов. Оценка размеров ОКР и величины 
микроискажений проведена по полуширинам дифракционных пиков методом 
аппроксимации в приближении лоренцевской формы пиков [71, стр.21]. Для 
разделения эффектов уширения за счет размеров ОКР и микроискажений 
использовались полуширины дифракционных пиков 002 и 004. 
Более точные расчеты показали, что есть как сходство, так и некоторое 
различие в этих образцах (табл. 2.2). Параметры решетки всех трёх образцов 
совпадают в пределах оцениваемых погрешностей. Размеры ОКР в плоскости 

---

47 
графенового слоя также достаточно близки. Некоторые различия имеются в 
микроструктуре образцов в направлении 00l
. 
Размеры ОКР в образце 
SGL
существенно меньше, хотя меньше и величина микроискажений (вариаций 
межслоевых расстояний). 
Это свидетельствует о наличии в данном образце более тонких, но 
лучше упорядоченных пакетов графитовых сеток по сравнению с МПГ-6. 
Под лучшим упорядочением здесь имеется в виду только меньшая величина 
вариаций межслоевых расстояний, но не концентрация дефектов наложения 
слоев, которая, судя по анизотропии уширения пиков, одинакова в обоих 
образцах. 
Расчеты ОКР в направлении 001
 
для образцов марки SGL хорошо 
коррелируют c данными электронной микроскопии, поскольку видно, что 
высота упорядоченных пакетов может быть заметно меньше 30 нм. 
Характерной особенностью графита марки LeCL можно считать несколько 
увеличенное 
межслоевое 
расстояние 
при 
стандартной 
величине 
микроискажений.