6-Мавзу давоми: Микроспопик усулдан фойдаланишнинг амалий имкониятлари

6-Мавзу давоми: Микроспопик усулдан фойдаланишнинг амалий имкониятлари.

РЕЖА:

• Микроскопик препаратлар.
• Усулдан фойдаланишнинг имкониятлари .
• Замонавий микроскоплар.

Маъруза №9

Микроскопик препаратлар

• Анорганик моддаларни поляризацион микроскоп ёрдамида ўрганишда асосан қуйидаги препаратлардан шлиф, кукунли (иммерсион) препарат, аншлиф ва бошқалардан фойдаланилади. Шлиф ва иммерсион препаратлар объектдан ўтган нур, аншлифлар эса қайтган нурлар ёрдамида ўрганилади.
• Ш л и ф л а р бир-бирига параллел жойлашган юпқа пластинкалардан иборат. Улар зичлиги катта бўлган силлиқланган кристалл моддани юпқа шишалар орасига ёпиштириб тайёрланади. Шлиф тайёрлаш учун текширилаётган моддадан кичкина бўлакча синдириб олинади, унинг бир томони силлиқланади ва шу томони билан канада бальзами ёрдамида предмет шишасига ёпиштирилади, сўнгра иккинчи томони силлиқланади. Силлиқлаш майда кристаллчалар бир-бирининг устига тушиб қолмайдиган даражада юпқа бўлганча давом эттирилади. Одатда шлифнинг қалинлиги 0,02-0,03мм чамасида бўлади.

И м м е р с и о н п р е п а р а т л а р тайёрлаш учун текширилаётган модда ховончада кукун ҳолига келгунча туйилади, сўнгра ундан озроқ миқдорда олиб предмет шиша устига солинади ва ёпқич шиши билан беркитилади. Сўнгра иккала шиша орасига суюқ ҳолатдаги канада бальзами ёки синдириш кўрсаткичи маълум бўлган иммерсион суюқлик киритилади ва у поляризацион микроскоплар ёрдамида текширилади.

• И м м е р с и о н п р е п а р а т л а р тайёрлаш учун текширилаётган модда ховончада кукун ҳолига келгунча туйилади, сўнгра ундан озроқ миқдорда олиб предмет шиша устига солинади ва ёпқич шиши билан беркитилади. Сўнгра иккала шиша орасига суюқ ҳолатдаги канада бальзами ёки синдириш кўрсаткичи маълум бўлган иммерсион суюқлик киритилади ва у поляризацион микроскоплар ёрдамида текширилади.

смола (терпентин)

А н ш л и ф тайёрлаш учун текширилаётган моддадан кичик бир бўлак синдириб олинади ва унинг текис юзаси силлиқланади. Бунинг учун металл диск устига озроқ сув томизилади ва турли дисперсликка эга бўлган абразив материаллар (карборунд, корунд) билан материалнинг юзасига бирламчи ишлов берилади.

• А н ш л и ф тайёрлаш учун текширилаётган моддадан кичик бир бўлак синдириб олинади ва унинг текис юзаси силлиқланади. Бунинг учун металл диск устига озроқ сув томизилади ва турли дисперсликка эга бўлган абразив материаллар (карборунд, корунд) билан материалнинг юзасига бирламчи ишлов берилади.

Усулдан фойдаланишнинг имкониятлари.

Микроскопик тахлилдан қуйидагиларни билиш мумкин:

• 1) кристалларнинг идентификацияси. Уларнинг оптик константаларини ўлчаш йўли билан (Ng,Np,N ва бошқалар);
• 2) кристалларнинг тузилиши, кристаллокимёвий хусусиятини дастлабки босқичда аниқлаш учун;
• 3) хом-ашё материаллари ва уларни куйдириш асосидаги маҳсулотларнинг шакл ва ўлчамларини ўрганиш учун;
• 4) кристалларнинг ўсиш жараёни ва уларнинг бузилиши;
• 5) моддалардаги фазовий ўзгаришлар;
• 6) диффузия жараёни;
• 7) ишлаб чиқаришнинг технологик жараёнларидаги нуқсонлар ва маҳсулот сифатини ўзгариши (керамик материаллар ва клинкерни пишган – пишмаганлиги, ғишт ва бетонлар структурасининг етилган-етилмаганлиги) сабабларини аниқлаш учун;

8) фазалар миқдорини аниқлаш учун;

• 8) фазалар миқдорини аниқлаш учун;
• 9) модданинг бир ёки кўп таркиблиги;
• 10) моддаларнинг акс тасвирлаш хусусияти;
• 11) моддаларнинг кимёвий бардошлиги;
• 12) моддаларнинг механик мустаҳкамлиги;
• 13) модда ёки аралашманинг эриш ҳарорати;
• 14) фаза таркиби миқдорини аниқлаш учун;
• 15) минералларнинг ранг бериш хусусиятини аниқлаш учун.
• 16) минералларнинг ажралиш қобилиятларини ажралиш текислиги орасидаги бурчаклар қиймати билан;
• 17) минерал ёки кимёвий модданинг узайиш белгиси ёки асосий йўналишини топип учун;
• 18) сўниш бурчаги С:Ng ни аниқлаб олиш учун;