6-Мавзу давоми: Ёруғлик ва электрон микроскопия усуллари

Электрон микроскоп

• Электрон микроскоп ёрдамида жуда майда минераллар ва уларнинг бўлаклари, шунингдек, майдалиги туфайли оддий микроскопда кўринмайдиган микрообъектларни ўрганиш мумкин.
• Оддий ва электрон микроскопларда нурларнинг йўналиши схемаси ўхшаш, лекин электрон микроскопда ёруғлик манбаи ўрнига электрон тўпи (пушка) дан фойдаланилади. Электрон манбаи сифатида қиздирилган вольфрам сим ишлатилади.

• Электрон микроскоплар объектларни текшириш характери бўйича ўтказувчи, қайтарувчи, эмиссион, сояли ва кўзгули микроскопларга бўлинади.
• Жуда майда заррачаларни қалинлиги 10-5 мм чамасида бўлган юпқа катламларни ўрганишда бевосита текшириш усулларидан фойдаланилади.
• Ёруғ тасвир олиш усули.
• Қоронғи тасвир олиш усули.

Электрон микроскоплар катталаштириш даражасига қараб уч хил классга бўлинади: 1 класс электрон микроскоплар 5-15 Å дан кичик ўлчамли заррачаларни ўрганишда ишлатилади. Бу классга УЭМБ-100, УМБ-100, ЭМ-7, IEM-54 ва НЧ-10 (Япония) ва BS–413 (Чехословакия) маркали микроскоплар киради. 2 класс электрон микроскоплар ёрдамида 20-30 Å ўлчамли заррачаларни ўрганиш мумкин. Бу класга ЭМ-5, IEM-Т4, ТЕСЛА-ВС-242 маркали электрон микроскоплар киради; 3 класс электрон микроскоплар 50-150 Å ўлчамли заррачаларни ўрганишга имкон беради. Бу классга УЭМ-100, ЭМ-3,НМ-3 (Япония) маркали электрон микроскоплар киради.

• Электрон микроскоплар катталаштириш даражасига қараб уч хил классга бўлинади: 1 класс электрон микроскоплар 5-15 Å дан кичик ўлчамли заррачаларни ўрганишда ишлатилади. Бу классга УЭМБ-100, УМБ-100, ЭМ-7, IEM-54 ва НЧ-10 (Япония) ва BS–413 (Чехословакия) маркали микроскоплар киради. 2 класс электрон микроскоплар ёрдамида 20-30 Å ўлчамли заррачаларни ўрганиш мумкин. Бу класга ЭМ-5, IEM-Т4, ТЕСЛА-ВС-242 маркали электрон микроскоплар киради; 3 класс электрон микроскоплар 50-150 Å ўлчамли заррачаларни ўрганишга имкон беради. Бу классга УЭМ-100, ЭМ-3,НМ-3 (Япония) маркали электрон микроскоплар киради.

• Ҳозирги вақтда ўтказувчи типидаги электромагнитавий микроскоп анча кенг тарқалган. Унда тасвир текширилаётган объект орқали ўтган электронлар таъсирида ҳосил бўлади.
• Микроскоп қурилмасининг ҳамма деталлари бир-бири билан уланиб микроскоп колоннасини ҳосил қилади. Бу колонна ичидаги ҳаво 10-4-10-5 мм симоб устунигача сийраклаштирилади.
• Ёритиш системаси одатда уч электродли электрон пушка ва конденсор линзадан ташкил топган бўлади. У электронларнинг зарурий қалинликдаги, катта тезликдаги оқимининг ҳосил қилади ва уни объектлар томон йўналтиради.