6-Мавзу давоми: Ёруғлик ва электрон микроскопия усуллари

Электрон микроскопда тасвир ҳосил бўлиш механизми.

• Электронлар окими объект орқали ўтганида унинг атомлари билан таъсирлашиб, ўзининг дастлабки йўналишидан оғади, лекин уларнинг энергияси ўзгармайди. Бунда электронларнинг бир қисми объект атомлари билан мутлақо тасирлашмай, яъни атомлар билан тўқнашмай объект атомлари билан тўқнашади. Бу тўқнашувлар икки хил бўлади: эластик, бунда энергия йўқолмайди ва эластикмас, бунда электронлар энергиясининг бир қисмини йўқотади.

Электрон микроскоп 2000 дан 40000 мартагача, ҳозирги замон микроскоплари эса 400000 мартагача катталаштиради. Моддаларни электрон микроскоп ёрдамида текширишнинг бевосита ва билвосита усуллари бор. Бевосита текшириш усулида ёруғ ёки қоронғи юэада тасвир ҳосил қилинади. Билвосита текшириш усули эса акс тасвирига (реплика) асосланган.

• Электрон микроскоп 2000 дан 40000 мартагача, ҳозирги замон микроскоплари эса 400000 мартагача катталаштиради. Моддаларни электрон микроскоп ёрдамида текширишнинг бевосита ва билвосита усуллари бор. Бевосита текшириш усулида ёруғ ёки қоронғи юэада тасвир ҳосил қилинади. Билвосита текшириш усули эса акс тасвирига (реплика) асосланган.

Оддий микроскопда тасвир текширилаётган объектнинг турли участкалари ёруғликни турлича ютиши, синдириши қайтариши ва ёйиши хисобига хосил бўлади.

• Оддий микроскопда тасвир текширилаётган объектнинг турли участкалари ёруғликни турлича ютиши, синдириши қайтариши ва ёйиши хисобига хосил бўлади.
• Электрон микроскопда тасвир текширилаётган объект зичлиги ва калинлиги хамма жойда бир хил эмаслиги натижасида унда электронларни турлича тарқалиши туфайли хосил бўлади.
• Электрон микроскоплар объектларни текшириш характери бўйича:
• Электронларни оқимини оғиш бурчаги объектни қалинлиги зичлиги ва электронларни тезлигига боғлиқ.

Микроскопик препаратлар

• Анорганик моддаларни поляризацион микроскоп ёрдамида ўрганишда асосан қуйидаги препаратлардан шлиф, кукунли (иммерсион) препарат, аншлиф ва бошқалардан фойдаланилади. Шлиф ва иммерсион препаратлар объектдан ўтган нур, аншлифлар эса қайтган нурлар ёрдамида ўрганилади.
• Ш л и ф л а р бир-бирига параллел жойлашган юпқа пластинкалардан иборат. Улар зичлиги катта бўлган силлиқланган кристалл моддани юпқа шишалар орасига ёпиштириб тайёрланади. Шлиф тайёрлаш учун текширилаётган моддадан кичкина бўлакча синдириб олинади, унинг бир томони силлиқланади ва шу томони билан канада бальзами ёрдамида предмет шишасига ёпиштирилади, сўнгра иккинчи томони силлиқланади. Силлиқлаш майда кристаллчалар бир-бирининг устига тушиб қолмайдиган даражада юпқа бўлганча давом эттирилади. Одатда шлифнинг қалинлиги 0,02-0,03мм чамасида бўлади.