Современные методы исследования Тестлер Кристалл бетиндеги атомлардың бетлик тығызлығы шамасы қандай? А

А – М₁>М₂>М₃
Б – М₁<М₂<М₃

13. 
    Резерфорд кери шашыраў спектроскопиясында қолланылатуғын ионлардың типик басланғыш кинетикалық энергиялары қандай?
    

А – 50 - 100 эВ
Б –1 - 2 кэВ
В – 1 - 2 МэВ
Г – 50 - 100 кэВ

14. 
    Массасы m ҳәм басланғыш энергиясы Е₀ болған биринши шаққан (тезлиги жоқары) ионлар 180 мүйеш пенен регистрацияланды. Шашырағаннан кейинги ионлардың максималь энергиясы (Е₁) менен тепки атом массасы (М>m) арасындағы байланыс қандай?
    

А – Е₁=E₀(m+M)/(M–m)
Б – Е₁=E₀(M–m)/(M+m)
В – Е₁=E₀(M–m)²/(M+m)
Г – Е₁=E₀(M–m)²/(M+m)²

15. 
    Беттиң элементлик қурамын анықлаў ушын шаққан (тезлиги жоқары) ионлардың кери шашыраў спектриниң қайсы характеристикасы қолланылады?
    

А – спектрдиң сәйкес шақабына туўра келетуғын шашыраған ионлардың максималь кинетикалық энергиясы.
Б – спектрдиң сәйкес шақабына туўра келетуғын шашыраған ионлардың минималь кинетикалық энергиясы.
В – спектр сызығының интенсивлиги
Г – спектр сызығының ярым ени

16. 
    Пленкалардың қалыңлығын анықлаў ушын шаққан ионлардың кери шашыраў спектриниң қайсы характеристикасы қолланылады?
    

А – спектрдиң сәйкес шақабына сәйкес келетуғын ионлардың максималь кинетикалық энергиясы.
Б – спектрдиң сәйкес шақабына сәйкес келетуғын ионлардың минималь кинетикалық энергиясы.
В – спектр сызығының интенсивлиги
Г – спектр сызығының ярым ени

17. 
    Шаққан (тезлиги жоқары) ионлардың кери шашыраў механизми қандай?