С. Зайнобидинов, X. Акромов яримутказгичлар

1. Н. Ф. Ковтанюк, Ю. А. Концевой. Измерения параметров полу­
проводниковых материалов. Изд. “Металлургия”. М. 1970 г.
2. Л. П. Павлов. Методы определения основных параметров полу­
проводниковых материалов. М. “Высшая школа”, 1975 г.
3. В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович. Измерение па­
раметров полупроводниковых материалов и структур. М. “Радио и связь”,
1985 г.
4. Л. П. Павлов. Методы измерения параметров полупроводниковых
материалов. М. “Высшая школа”, 1987 г.
5. Ю. В. Воробьев, В. Н. Добровольский, В. И. Стриха. Методы ис­
следования полупроводников. Киев “ Высшая школа”, 1988 г.
6. В. М. Колешко, Т. Д. Каплон. С—V методы измерения парамет­
ров МОП структуры. Обзоры по электронной технике. Сер. 3-микро­
электроника. Вып. 2/456/М . Ц Н ИИ , Электроника, 1977 г.
7. И. Н. Каримов. “Влияние внешних воздействий на свойства гра­
ницы разделе полупроводник-диэлектрик МДП — структур”. Канд. дис.
Ташкент — 1986 г.
8. Л. С. Берман, А. А. Лебедев “Емкостная спектроскопия глубоких
центров в полупроводниках”. Изд. “Наука” 1981 г.
9. Terman Z. М. Solid State Electronics 1952, 5, 285.
316

---

МУНДАРИЖА
Кириш ....................................................................................................................... 3
l -боб. ЯРИМУТКАЗГИЧЛАРДЛ СОЛИШ ТИРМА 
КАРШИЛИКНИ УЛЧАШ УСУЛЛАРИ
1.1 -§. Яримутказгичли намунанинг солиштирма к;аршилигини унинг
тула к,аршилиги буйича аникдаш......................................................... 5
1.2-§. Солиштирма каршиликни улчашнинг бир ва икки зондли
 
усуллари..................................................................................................... 11