О природе минералов 1 Введение

 вторичной флуоресценции
матрицы. На-
пример, квант высокой энергии рентгеновского
излучения, характеристического для элемен-
та А, может быть поглощен атомом элемента
В, вызывая таким образом у него вторичную
эмиссию. Следовательно, присутствие в образ-
це элементов А и В будет увеличивать интен-
сивность излучения В и уменьшать ее у А.
4. Напряжение, используемое для ускорения элек-
тронного пучка, также может влиять на ин-
тенсивность характеристического излучения.
Чем выше ускоряющее напряжение, тем боль-
шей энергией обладают электроны в пучке и
тем глубже они проникают и распространяют-
ся в пределах образца. Этот процесс приво-
дит к потере пространственного разрешения,
но значительно увеличивает степень возбужде-
ния (рис. 5.4). Влияние ускоряющего напряже-
ния на эффективность возбуждения характе-
ристических рентгеновских линий показано на
рис. 5.5.
При проведении анализа перечисленные фак-
торы учитываются путем введения поправки
 ZAF
(где
 Z —
атомный номер,
 А —
поглощение,
 F —

---

Рис. 5.5 Зависимость эффективности возбуждения характеристических рентгеновских линий
от величины ускоряющего напряжения Энергия дисперсионных рентгеновских спектров меди
составляет 10 кэВ (о) и 20 кэВ
( 6 ) .
Линии Cu К
 a
и К
 β
(8,05
и 8,90 кэВ соответственно)
обладают низкой эффективностью возбуждения при 10 кэВ
наведенная рентгеновскими лучами флуоресцен-
ция).
Обычно самые лучшие аналитические резуль-
таты получаются, если условия эксперимента тща-
тельно контролируются с помощью стандартов,
которые настолько близки к составу образца, на-
сколько это возможно. Так, при анализе железо-
содержащих сфалеритов лучшим стандартом был
бы железосодержащий сфалерит (Zn,Fe)S, но бы-
ло бы ошибкой использовать в этом случае в ка-
честве стандарта на Zn и S чистый синтетический
сфалерит. Стандартом на железо мог бы послу-
жить его сульфид.
5.2.3 Энергетический дисперсионный и
кристалл-дифракционный анализы
1
В электронно-зондовом микроанализе существу-
ют два способа, с помощью которых можно раз-
делить, объединить в пучок и подсчитать кванты
рентгеновского излучения. В ходе энергетическо-
го дисперсионного спектрального (ЭДС) анализа
кванты разделяются в соответствии с их харак-
теристическими энергиями. Для разделения рент-
геновских лучей по их характеристическим дли-
нам волн используются дифракционные свойства
кристаллов, и такой вид исследования называется
кристалл-дифракционным спектральным (КДС)
анализом. Как ЭДС-, так и КДС-анализы имеют
широкое применение, причем оба метода облада-
ют своими преимуществами и недостатками.
На рис. 5.6 приведена схема ЭДС-анализатора.
Рентгеновское излучение всех элементов реги-
стрируется одновременно кристаллом-полупро-
водником, который, как правило, состоит из крем-
ния с добавкой небольшого количества лития. За-
тем энергия различных рентгеновских квантов