91
ется в других слоях с соответствующими статическими неодно-
родностями.
Например, в структурах «сегнетоэлектрик - полупровод-
ник» используется эффект поля. В
этом случае свойства полу-
проводника определяются состоянием поляризации сегнето-
электрика.
Если сегнетоэлектрик деполяризован (
Р
= 0), то на грани-
це раздела «сегнетоэлектрик – полупроводник»
n
-типа нет из-
гиба зон (рис. 3.5,
а
). Собственный уровень Ферми
Е
FC
пред-
ставляет собой прямую линию, а основные носители смешаны в
полупроводнике с неосновными. При поляризации сегнетоэлек-
трика (-
Р
) у границы раздела в полупроводниковом слое обра-
зуется слой накопления основных носителей. Происходит изгиб
зон, включая уровень Ферми, и
при этом поверхностная плот-
ность больше объемной плотности (рис. 3.5,
б
).
Если переполяризовать сегнетоэлектрик (+
Р
), то у грани-
цы раздела в полупроводнике образуется слой обеднения ос-
новными носителями. Зоны изогнуться в противоположную
сторону и поверхностная плотность будет меньше объемной
плотности зарядов (рис. 3.5,
в
).
В таких структурах информация,
соответствующая одно-
му из направлений вектора спонтанной поляризации, может
быть считана по изменению поверхностного потенциала по-
лупроводника. Время перезаписи информации определяется
временем переполяризации. В таких
слоистых средах большое
значение имеют электрические поля в сегнетоэлектриках. Поле
спонтанной поляризации должно быть меньше коэрцитивного.
(Коэрцитивное поле в сегнетоэлектриках – это электрическое
поле, которое необходимо приложить к сегнетоэлектрику в по-
лярной фазе для уменьшения его поляризации до нуля.)В этом
случае энергия переключения знака поляризации меньше затра-
чиваемой энергии. Одновременно должно соблюдаться условие,
при котором уровень коэрцитивного поля меньше уровня элек-
92
трического пробивного поля. Это условие позволит произво-
дить переполяризацию сегнетоэлектрика без его разрушения.
Рис. 3.5. Изменение свойств полупроводника при изменении
поляризации сегнетоэлектрика
Управляемость поверхностным потенциалом полупровод-
ника в структуре типа «металл – сегнетоэлектрик – полупро-
водник» (МСЭП-структура) существенным образом зависит от
качества
границы раздела, от фиксированного в сегнетоэлек-
трике заряда
Q
СЭ
, заряда, захваченного на поверхностных со-
стояниях полупроводника
Q
SS
.
Весьма перспективной является структура «сегнетоэлек-
трик – фотополупроводник». Такая структура помещается меж-
ду оптически прозрачными проводяшими электродами. При ло-
кальном освещении полупроводника его сопротивление умень-
шается, и все напряжение между проводящими электродами
падает на слой сегнетоэлектрика. В
освещенных областях сег-
нетоэлектрик переполяризуется. Возникающее пространствен-
ное распределение поляризации сегнетоэлектрика соответству-
ет распределению освещенности и позволяет осуществить оп-
тическое считывание.