O`zbekiston respublikasi sog`liqni saqlash vazirligi toshkent farmasevtika instituti

3.3. Metrologik parametrlarini aniqlash 
3.3.1. Qurilmaning asosiy xatoligini va u bo‘yicha qiymatlarni shkalaning uchtadan kam 
bo‘lmagan nuqtalarida aniqlanadi (ikkita chegaraviy qiymatlarga yaqin qiymatlarda va ularning 
oralig‘ida). Bu xatoliklar fotoelektrik qurilmalar uchun neytral va neytral bo‘lmagan yorug‘lik 
filtrlari uchun pasportda ko‘rsatilgan yuqoriroq optik zichlik qiymatlari uchun tekshiriladi. 
Qutblanish tekisligining burilish burchagini bir necha to‘lqin uzunliklarida o‘lchashga 
mo‘ljallangan polyarimetrlarda metrologik parametrlar barcha to‘lqin uzunliklarida aniqlanadi. 
3.3.2. Agar namunaviy polyarimetrik plastinkalarning temperaturasi o‘lchash davomida 20
o
S dan farq qilsa, unday vaqtda uning burilish burchagi o‘lchanayotgan haroratda quyidagi formula 
yordamida aniqlanadi:
bu erda, ψ - o‘lchanayotgan temperaturada plastinkaning burilish burchagi; 
ψ
20
- 20
o
S temperaturada plastinkaning pasportida keltirilgan
burilish 
burchagi; 
t 
- 
plastinkaning 
o‘lchanayotgan 
vaqtdagi 
temperaturasi. 
3.3.3. Polyarimetrning va saxarimetrning asosiy xatoligini namunaviy polyarimetrik plastinkalar 
yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi. 
3.3.4. Fotoelektrik polyarimetrning ko‘rsagichlaridagi o‘xshashlik ( polyarimetrlar va 
saxarimetrlar uchun) o‘lchanayotgan qiymatga nisbatan ko‘p yoki kam bo‘lgan qiymatlar uchun, 
namunaviy polyarimetrik plastinkalar yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar 
asosida aniqlanadi. Qurilmaning kyuveta qo‘yiladigan joyiga namunaviy polyarimetrik 
plastinkalar joylashtiriladi va uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda ushlab turiladi. Qutblanish 

---

187 
tekisligining burilish burchagini instruksiyada ko‘rsatilgan tarzda nol qiymatdan kichikroq 
bo‘lgan beshta qiymatlarda o‘lchanadi. Keyin noldan kattaroq bo‘lgan beshta qiymatlarda 
o‘lchanadi. O‘nta olingan eng katta va eng kichik o‘lchash qiymatlaridagi farq yo‘l qo‘yishi 
mumkin bo‘lgan, qurilmaning pasportida ko‘rsatilgan xatolik darajasidan katta bo‘lmasligi kerak.
3.3.5. Fotoelektrik polyarimetrning asosiy xatoligini namunaviy polyarimetrik plastinkalar 
yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi. Qurilmaga 
namunaviy polyarimetrik plastinkalarni joylashtiriladi, uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda 
ushlab turiladi va plastinkaning burilish burchagini beshtadan kam bo‘lmagan qiymatlarda 
o‘lchanadi. O‘lchangan qiymatlar (yoki o‘ziyozar qurilma yozgan qiymatlar) va guvohnomada 
keltirilgan qutblanish tekisligining burilish burchagi qiymatlarining farqlari topiladi. Aniqlangan 
qiymatlar yo‘l qo‘yishi mumkin bo‘lgan texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik 
qiymatidan (aniq bir qurilma tipi uchun) katta bo‘lmasligi kerak.
3.3.6. Fotoelektrik polyarimetrning turg‘un xolatdagi to‘xtovsiz ishlash vaqtini davriy 
ravishda belgilash asosida 30 minut davomida ishlatib qizdirilgandan keyin va qurilma noniusining 
nol xolati pasportda ko‘rsatilgan usulda aniqlanadi. Qurilmaning nol xolati yo‘l qo‘yilishishi 
mumkin bo‘lgan texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik qiymatidan oshmasligi kerak.
3.3.7 . Qurilmani qiyoslash bo‘yicha olingan natijalar maxsus bayonnoma shakliga yoziladi 
va rasmiylashtiriladi.