Nspectr tpg indd

Рис. 2.4. Схема источника ионов с индуктивно- связанной плазмой

---

29
2.1. Источники ионов
же следует отметить образование оксидов для некоторых элементов. Для обеспе-
чения большей эффективности ионизации элементов с высокими энергиями 
ионизации (например галогенов) аргон можно заменить гелием [29]. Вследствие 
непрерывности ионного пучка, формирующегося в источниках ионов с ИСП, 
предпочтительно комбинировать ИСП с магнитными секторными и квадруполь-
ными анализаторами. Существует несколько методов ввода образца в приборах 
с ИСП: распыление, электрохимическое испарение, газовая хроматография, гене-
рация гидридов и лазерная абляция [30]. Лазерная абляция в сочетании с ИСП 
(ЛА-ИСП) — полезный метод анализа твердых проб. В этом случае перед источ-
ником располагается ячейка абляции. Поток аргона направляется через ячейку 
к источнику ионов. Проба облучается лазером, и десорбированный материал 
пробы направляется потоком аргона в плазму и ионизируется. Для более полно-
го обзора ИСП и других источников ионов, применяемых для анализа неоргани-
ческих проб, смотрите ссылку [21] и главу 9.
2.1.6. Èîíèçàöèÿ ýëåêòðîíàìè
Ионизация электронами (ИЭ) впервые была продемонстрирована Демпстером 
в 1921 году, который использовал ее для измерения изотопов лития и магния [31]. 
Современные источники на основе ионизации электронами, тем не менее, бази-
руются на конструкциях, предложенных Бликни [32] и Ниром [33, 34], работав-
ших в лаборатории профессора Дж. Т. Тэйта. В этом методе пучок электронов на-
правляется на пары исследуемых молекул.
Источник ИЭ состоит из камеры с несколькими отверстиями (рис. 2.5). Ис-
следуемые молекулы направляются в камеру. Электронный пучок формируется 
при нагревании катода, затем электроны пересекают камеру и собираются на 
Ионы
К анализатору
Пучок
электронов
Отражатель
Ввод
пробы
Испаритель
Коллектор
электронов
Катод
Магнит
Магнит
Рис. 2.5. Схема источника с ионизацией электронами

---

30