Изучение электрической схем

Приборы неразрушающего контроля электрофизических параметров широкозонных полупроводников SemiCon-1



Для экспрессного бесконтактного локального измерения удельного сопротивления, времени жизни неравновесных носителей заряда и определения типа проводимости в пластинах и толстых шайбах поли- и монокристаллического кремния, германия, арсенида галлия в лабораторных условиях.

Измерители параметров полупроводниковых приборов ИППП-1. Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей и отображения на экране внешнего персонального компьютера (ПК) вольт-амперных характеристик (ВАХ) исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основестандартных параметров исследуемого объекта, формирования и заполнения отчета о полученных результатах, для меж-операционного контроля параметров тест-структур на полупроводниковых пластинах в процессе производства в электронной промышленности, анализа брака, а также исследований ВАХ при разработке новых изделий и технологий, возможно использование приборов при входном контроле или для подбора полупроводниковых приборов по заданным параметрам.

Измерители параметров полупроводниковых приборов 4155С, 4156С

Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе стандартных параметров исследуемого объекта, формирования и заполнения отчета о полученных результатах. Область применения - проведение работ в процессах наладки, ремонта и лабораторных исследованиях на предприятиях электронной и радиотехнической промышленности, в научно-исследовательских институтах и научно-производственных организациях.

Система для измерений электрических параметров полупровод-никовых приборов NI PXI 1033 с модулями 4070, 4071, 4110. Для прецизионных измерений постоянного и переменного электрического напря-жения, и силы тока, электрического сопротивления и частоты, а также для питания полупроводниковых приборов в режимах источника постоянного тока или постоянного напряжения, для применения в автоматизированных контрольно-измерительных и испытательных комплексах, установках для научных исследований.