Inog’omov farmasevtik qurilmalarida o’lchash asoslari toshkent 2020

Metrologik parametrlarini aniqlash

1. 
   Qurilmaning asosiy xatoligini va u bo‘yicha qiymatlarni shkalaning uchtadan kam bo‘lmagan nuqtalarida aniqlanadi (ikkita chegaraviy qiymatlarga yaqin qiymatlarda va ularning oralig‘ida). Bu xatoliklar fotoelektrik qurilmalar uchun neytral va neytral bo‘lmagan yorug‘lik filtrlari uchun pasportda ko‘rsatilgan yuqoriroq optik zichlik qiymatlari uchun tekshiriladi. Qutblanish tekisligining burilish burchagini bir necha to‘lqin uzunliklarida o‘lchashga mo‘ljallangan polyarimetrlarda metrologik parametrlar barcha to‘lqin uzunliklarida aniqlanadi.
   
2. 
   Agar namunaviy polyarimetrik plastinkalarning temperaturasi o‘lchash davomida 20^o S dan farq qilsa, unday vaqtda uning burilish burchagi o‘lchanayotgan haroratda quyidagi formula yordamida aniqlanadi:
   

ѱ = ѱ₂₀[1 + 0,000143(𝑡 − 20^𝑜)]
bu erda, ψ - o‘lchanayotgan temperaturada plastinkaning burilish burchagi;
ψ₂₀ - 20^o S temperaturada plastinkaning pasportida keltirilgan
burilish burchagi;
t - plastinkaning o‘lchanayotgan vaqtdagi temperaturasi.

3. 
   Polyarimetrning va saxarimetrning asosiy xatoligini namunaviy polyarimetrik plastinkalar yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi.
   
4. 
   Fotoelektrik polyarimetrning ko‘rsagichlaridagi o‘xshashlik ( polyarimetrlar va saxarimetrlar uchun) o‘lchanayotgan qiymatga nisbatan ko‘p yoki kam bo‘lgan qiymatlar uchun, namunaviy polyarimetrik plastinkalar yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi. Qurilmaning kyuveta qo‘yiladigan joyiga namunaviy polyarimetrik plastinkalar joylashtiriladi va uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda ushlab turiladi. Qutblanish tekisligining burilish burchagini instruksiyada ko‘rsatilgan tarzda nol qiymatdan kichikroq bo‘lgan beshta qiymatlarda o‘lchanadi. Keyin noldan kattaroq bo‘lgan beshta qiymatlarda o‘lchanadi. O‘nta olingan eng katta va eng kichik o‘lchash qiymatlaridagi farq yo‘l qo‘yishi mumkin bo‘lgan, qurilmaning pasportida ko‘rsatilgan xatolik darajasidan katta bo‘lmasligi kerak.
   
5. 
   Fotoelektrik polyarimetrning asosiy xatoligini namunaviy polyarimetrik plastinkalar yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi. Qurilmaga namunaviy polyarimetrik plastinkalarni joylashtiriladi, uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda ushlab turiladi va plastinkaning burilish burchagini beshtadan kam bo‘lmagan qiymatlarda o‘lchanadi. O‘lchangan qiymatlar (yoki o‘ziyozar qurilma yozgan qiymatlar) va guvohnomada keltirilgan qutblanish tekisligining burilish burchagi qiymatlarining farqlari topiladi. Aniqlangan qiymatlar yo‘l qo‘yishi mumkin bo‘lgan texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik qiymatidan (aniq bir qurilma tipi uchun) katta bo‘lmasligi kerak.
   
6. 
   Fotoelektrik polyarimetrning turg‘un xolatdagi to‘xtovsiz ishlash vaqtini davriy ravishda belgilash asosida 30 minut davomida ishlatib qizdirilgandan keyin va qurilma noniusining nol xolati pasportda ko‘rsatilgan
   

usulda aniqlanadi. Qurilmaning nol xolati yo‘l qo‘yilishishi mumkin bo‘lgan texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik qiymatidan oshmasligi kerak.
3.3.7 . Qurilmani qiyoslash bo‘yicha olingan natijalar maxsus bayonnoma shakliga yoziladi va rasmiylashtiriladi.

4.