Т. В. Свистова основы микроэлектроники учебное пособие



Download 2,59 Mb.
Pdf ko'rish
bet18/61
Sana24.02.2022
Hajmi2,59 Mb.
#218460
1   ...   14   15   16   17   18   19   20   21   ...   61
Bog'liq
svistova-t.v.-osnovy-mikroelektroniki (1)

Комбинированный метод, при котором сочетаются изо-
ляция диэлектриком и изоляция р-n-переходом, является са-


35 
мым распространенным методом изоляции транзисторных 
структур. При этом варианте изоляция p-n-переходом осуще-
ствляется внизу структуры и слоем SiO
2
на поверхностях пря-
моугольных или V - образных канавок. 
Основным технологическим процессом является изопла-
нарная технология, в основе которой лежит локальное окисле-
ние тонкого эпитаксиального слоя кремния. Результатом этого 
является образование карманов, которые сбоку изолированы 
диэлектриком, а от подложек изолируется р-n-переходом. В 
таких карманах и располагаются транзисторные структуры, а 
также элементы интегральных схем. 
В изопланарном процессе для локального прокисления 
используются маски из нитрида кремния. Этот технологиче-
ский процесс позволяет обеспечить большую плотность упа-
ковки элементов на кристалле и получить высокие частотные и 
переходные характеристики транзисторных структур. 
Большое распространение получил метод боковой ди-
электрической изоляции V-канавками (рис. 2.6). В этом тех-
нологическом процессе вместо сквозного прокисления эпитак-
сиального слоя используется локальное анизотропное травле-
ние поверхности кристалла, ориентированной по плоскости 
(100). 
Рис. 2.6. Совместная изоляция p-n-переходом
и диэлектрическими пленками 
В этом случае травление идет в плоскости (111) так, что 
грани (111) сходятся ниже границы эпитаксиального слоя. Об-
разовавшиеся V-образные канавки заполняются диоксидом 
кремния, либо поликристаллическим кремнием (рис. 2.1, в). 


36 
Используя метод реактивного ионного травления, можно 
уменьшить ширину канавки и превратить ее из V- в U-
образную. 
Недостатком такого способа изоляции является исполь-
зование плоскости (100), что сопряжено с повышенной плот-
ностью поверхностных дефектов. 
К изоляции МДП-транзисторных структур и элементам 
интегральных схем требования менее жестки в силу физиче-
ских особенностей их работы. Эти же методы изоляции ис-
пользуются и в униполярных интегральных схемах. 

Download 2,59 Mb.

Do'stlaringiz bilan baham:
1   ...   14   15   16   17   18   19   20   21   ...   61




Ma'lumotlar bazasi mualliflik huquqi bilan himoyalangan ©hozir.org 2024
ma'muriyatiga murojaat qiling

kiriting | ro'yxatdan o'tish
    Bosh sahifa
юртда тантана
Боғда битган
Бугун юртда
Эшитганлар жилманглар
Эшитмадим деманглар
битган бодомлар
Yangiariq tumani
qitish marakazi
Raqamli texnologiyalar
ilishida muhokamadan
tasdiqqa tavsiya
tavsiya etilgan
iqtisodiyot kafedrasi
steiermarkischen landesregierung
asarlaringizni yuboring
o'zingizning asarlaringizni
Iltimos faqat
faqat o'zingizning
steierm rkischen
landesregierung fachabteilung
rkischen landesregierung
hamshira loyihasi
loyihasi mavsum
faolyatining oqibatlari
asosiy adabiyotlar
fakulteti ahborot
ahborot havfsizligi
havfsizligi kafedrasi
fanidan bo’yicha
fakulteti iqtisodiyot
boshqaruv fakulteti
chiqarishda boshqaruv
ishlab chiqarishda
iqtisodiyot fakultet
multiservis tarmoqlari
fanidan asosiy
Uzbek fanidan
mavzulari potok
asosidagi multiservis
'aliyyil a'ziym
billahil 'aliyyil
illaa billahil
quvvata illaa
falah' deganida
Kompyuter savodxonligi
bo’yicha mustaqil
'alal falah'
Hayya 'alal
'alas soloh
Hayya 'alas
mavsum boyicha


yuklab olish