245
называемая
сверхиндуктивность
L
к
,
обусловленная взаимодей-
ствием возникающих в ней высокоэнергетических электронных
пар. Индуктивность
L
к
при определенном
выборе геометрии
пленки может преобладать над обычной индуктивностью
L
проводника. Внешним электромагнитным полем можно перио-
дически разрушать и восстанавливать такие электронные пары,
изменяя их концентрацию
п
к
,
и тем самым периодически изме-
нять индуктивность
L
к
по закону
L
к
= 1/
п
к
.
Рис. 6.9. Низкотемпературный параметрический усилитель:
а
- эквивалентная схема;
б
- вольтамперная характеристика
перехода металл-полуметалл (
U
- напряжение,
I
- ток)
и зависимость его ѐмкости
С
от напряжения при Т < 80 К;
пунктиром показана эта же характеристика при комнатной
температуре (300 К):
U
н
и
н
– напряжениеи частота накачки;
в
- переход металл-полуметалл - активный элемент усилителя
Параэлектрические усилители
основаны на
аномально
высокой поляризации некоторых диэлектриков (например,
CrTiO
3
) при низких температурах. Диэлектрическая проницае-
мость таких диэлектриков (параэлектриков) от 10 до 15
·
10
3
,
246
при Т< 80 К появляется сильная зависимость диэлектрических
потерь от внешнего электрического поля (рис. 6.11). Активный
элемент параэлектрического усилителя представляет собой
электрический конденсатор, заполненный
таким параэлектри-
ком, помещенным в электромагнитное поле (накачка). Ёмкость
такого конденсатора периодически изменяется с частотой на-
качки, что позволяет осуществить параметрическое усиление.
Рис. 6.10. Сверхпроводящий усилитель:
а
– схема,
L
- yправляемая индуктивность,
R
п
- сопротивление перехода
Джезефсона;
б
- активный элемент усилителя
Рис. 6.11. Зависимость диэлектрической проницаемости
ε
и угла
диэлектрических потерь
δ
от температуры
Т
247
На рис.6.12,
а
приведена структура активного элемента
параэлектрического
усилителя, а на рис. 6.12,
б
- зависимость
его емкости от напряжения при температуре 4,2 К. Пунктиром
показана эта же зависимость при нормальной температуре
(300 К).
а
б
Рис. 6.12. Параэлектрический усилитель:
а
– структура
активного элемента;
б
– зависимость емкости от напряжения
(1 – пленка параэлектрика; 2 – металлические пленки;
3 – конденсатор; 4 – диэлектрическая подложка;)
Существуют усилители, в
которых используются комби-
нации перечисленных методов. Например, сочетание изменяю-
щихся индуктивности
L
сверхпроводника и ѐмкости
С
«заперто-
го» перехода металл - полуметалл позволяет создать усилитель,
где одновременно от одного генератора модулируется
С
и
L,
что улучшает характеристики усилителей (рис. 6.13).
Количественным критерием чувствительности криоэлек-
тронных усилителей является их
Do'stlaringiz bilan baham: