Д. В. Харьков графит в науке и ядерной технике г. Новосибирск 013 Монография

Рис. 1.1.
Фазовая диаграмма углерода 
Bundy et al.
, 1996г. 
[15, 16].
1.1.2. Рентгенодифракционный метод исследования поликристалличес-
ких графитов основан на том, что согласно условию Вульфа - Брэгга 
максимумы 
дифракционной 
картины 
возникают 
при 
отражении 
рентгеновских лучей от системы параллельных кристаллографических 
плоскостей, когда лучи, отражённые разными плоскостями этой системы, 
имеют разность хода, равную целому числу длин волн: 

---

9 
2
d
sin θ = 
m 
λ, 
(1.1) 
где 
d
— межплоскостное расстояние, θ — угол скольжения, т. е. угол 
между отражающей плоскостью и падающим лучом, λ - длина волны 
рентгеновского излучения и 
m
- так называемый, порядок отражения, т. е. 
положительное целое число.
Исследование структуры поликристаллических материалов с помощью 
дифракции рентгеновских лучей основано на методе Дэбая-Шерера 
[17, 
стр.43
]. Металлы, сплавы, кристаллические порошки состоят из множества 
мелких монокристаллов данного вещества, для их исследования используют 
монохроматическое излучение. 
В данном методе узкий параллельный пучок монохроматических 
рентгеновских лучей, падая на поликристаллический образец и отражаясь от 
кристалликов, из которых он состоит, даёт ряд коаксиальных, т. е. имеющих 
одну общую ось, дифракционных конусов. Осью этих конусов служит 
направление первичного пучка рентгеновских лучей, вершины их лежат 
внутри исследуемого объекта, а углы раствора определяются согласно 
условию Вульфа-Брэгга. 
Угол раствора конуса равен учетверённому углу отражения , и 
измерение углов раствора дифракционных конусов позволяет определить 
межплоскостные расстояния 
d.
В некоторых случаях этих данных, в 
совокупности с измерением интенсивности лучей в каждом дифракционном 
конусе, достаточно для полного определения структуры кристаллической 
решётки.
Рентгенограмма (дебаеграмма) поликристаллов представляет собой 
несколько концентрических колец, в каждое из которых сливаются 
отражения от определённой системы плоскостей различно ориентированных 
монокристаллов. Дебаеграммы различных веществ имеют индивидуальный 
характер и широко используются для идентификации соединений (в том 
числе и в смесях). 

---

10