Avtomatik boshqarish

d) sifatni ochiq sistema logarifmik chastota xarakteristikalari

bo‘yicha baholash.

Bu baholashlar wt(jp)= ^{K ( p )} bo‘lgan hol uchun o‘rinli bo‘ladi;

1 + ^ »

qolgan hollarda esa ular juda ham taqribiy hisoblanadi, fVt(p) va Wf (p)

orasidagi farq qancha katta bo‘lsa, xatolik ham shuncha katta bo'ladi.

97


www.ziyouz.com kutubxonasi



Tebranuvchan o‘tkinchi jarayon xarakteristikasi uchun yopiq sistema AChX rezonans chastotasi cor ochiq sistema LAX ning kesishish chastotasi oos bilan teng, bu yerda oos- kesishish chastotasi LAX chastota o‘qi bilan kesishishiga mos keluvchi chastota. Bu holda W « « ji/oos, o'tkinchi jarayon vaqti esa tp = (K2)7c/cosga teng boTadi. Agar o‘tkinchi jarayon xarakteristikasi pionoton boTsa, u holda tj ~ it/oos. Tebranuvchanlik masalasiga kelsak, o‘tkinchi jarayon juda kichik tebranuvchanlikka ega, chunki faza bo‘yicha zaxira A^S30°, amplituda bo‘yicha zaxira esa AL £ 6 db ga teng va bu chiziqli masshtabda 2 ga mos keladi.

Minimal fazali sistema tebranuvchanligini baholash uchun faqat bitta LAX ga ega boTishning o‘zi kifoyadir.

Agar kesishish chastotasida LAX 20 db/dek. qiyalikka ega boTsa, tebranuvchanlik ruxsat etilgan chegarada boTadi. Shu bilan birga bunday qiyalikka ega boTgan uchastka qancha keng boTsa, tebra- nuvchanlik shuncha kichik boTadi.

Ta’kidlash lozimki, ochiq sistemaning LAX yordamida o‘tkinchi jarayon sifati analizi yoki ABS sintezi juda oson amalga oshiriladi.